特許
J-GLOBAL ID：201103051708562340

自動分析装置

発明者：
石井 尚実

石井 尚実 について

, 
高橋 敦

高橋 敦 について


出願人/特許権者：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

株式会社日立ハイテクノロジーズ について


代理人 (2件)： 井上 学 ,  戸田 裕二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-178582
公開番号（公開出願番号）：特開2011-033425
出願日： 2009年07月31日
公開日（公表日）： 2011年02月17日
要約：
【課題】従来、消耗品は、自動分析装置の操作を行う検査技師が、過去の経験により補充する時期を予測して準備し、処理中に補充を行ったり、消耗品不足のアラームを認知することで補充を行ったりしていた。消耗品の消費が、検体ごとの検査依頼項目の組み合わせに依存しているために、正確に不足する時期を認識できなかったためである。【解決手段】本発明による自動分析装置は、検体の処理を行う機能モジュールが搬送装置を介して複数接続した構成において、搬送装置が、検体を搬送する経路を決定するために、搬送経路算出手段を用い、前記搬送経路算出手段は少なくとも、検査依頼項目と、消耗品残量予測値と、を用いることを特徴としている。消耗品残量予測値が所定の値よりも小さい場合には、消耗品不足が発生する前に、オペレータに通知し、消耗品不足となる検体を別の機能モジュールに搬送することで検査の中断を防ぎ、継続して検査が可能となる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
検体を処理するための消耗品を備え、搬送装置を介して搬送された検体を処理する複数の機能モジュールを備えた自動分析装置において、 検体に依頼された検査依頼項目情報と、該検体の処理に使用する前記機能モジュールに架設された消耗品の消耗品残量情報と、前記機能モジュールで処理が予定されている未処理の検査依頼項目数より算出される機能モジュール負荷度と、から該検体を処理する機能モジュールを決定する搬送経路算出手段と、を備えたことを特徴とする自動分析装置。
IPC (2件)：
G01N 35/00 ,  G01N 35/02
FI (3件)：
G01N35/00 F ,  G01N35/00 C ,  G01N35/02 F
Fターム (3件)：
2G058CB09 ,  2G058GE05 ,  2G058GE08
引用特許：
出願人引用 (14件)
  • 検体分析システム及びその取り扱い方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-094527   出願人：株式会社日立製作所
  • 分取用チップの使用モードが選択可能な分注装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-111726   出願人：オリンパス光学工業株式会社
  • 自動分析装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-065376   出願人：オリンパス光学工業株式会社
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審査官引用 (14件)
  • 検体分析システム及びその取り扱い方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-094527   出願人：株式会社日立製作所
  • 分取用チップの使用モードが選択可能な分注装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-111726   出願人：オリンパス光学工業株式会社
  • 自動分析装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-065376   出願人：オリンパス光学工業株式会社
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