X線回折方法および中性子線回折方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (6件)：青木篤 , 石田敬 , 古賀哲次 , 蛯谷厚志 , 小林良博 , 田崎豪治
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-289460
公開番号（公開出願番号）：特開2003-098124
特許番号：特許第4492779号
出願日： 2001年09月21日
公開日（公表日）： 2003年04月03日
請求項（抜粋）：

【請求項1】試料における逆格子点をX線回折方法により測定する際に、入射X線と回折X線のなす角度である2θ軸、入射X線と試料のなす角度であるω軸、X線の入射方向に対して垂直方向のあおり角であるψ軸ならびに試料の面内回転角であるφ*軸からなる4つの可動軸を備えたX線回折を用い、2θ軸とω軸をカップリングさせて一定の角度区間を走査し、ついでψ軸をシフトして再び2θ軸とω軸をカップリングさせながら一定の角度区間を走査することを最大で角度90度まで繰返すことにより逆格子点を測定し、ならびにこの測定中にφ*軸を高速回転させることを特徴とするX線回折方法。

IPC (3件)：