特許
J-GLOBAL ID:201103078760325581
発光素子用基板の清浄方法、発光素子の製造方法および発光素子用基板の清浄装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
深見 久郎 (外4名)
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-224374
公開番号(公開出願番号):特開2000-244016
特許番号:特許第3285014号
出願日: 1999年07月01日
公開日(公表日): 2000年09月08日
請求項(抜粋):
【請求項1】 その上に第1導電型クラッド層、活性層および第2導電型クラッド層を順に形成すべきZnSe基板を準備する工程と、前記第1導電型クラッド層を形成するに先立ち、前記ZnSe基板の表面に、酸素よりも酸化力の強い酸化雰囲気を接触させ、該表面に膜厚1-2nmの酸化膜を形成する工程と、前記表面に形成された前記酸化膜を、H2ラジカルで除去する工程と、を備えた発光素子用基板の清浄方法。
IPC (3件):
H01L 33/00
, H01L 21/304 645
, B08B 3/08
FI (3件):
H01L 33/00 D
, H01L 21/304 645 Z
, B08B 3/08 Z
引用特許:
出願人引用 (8件)
-
半導体基板の表面処理方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-259897
出願人:光洋リンドバーグ株式会社
-
特開平2-089309
-
特開平2-208299
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審査官引用 (9件)
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半導体基板の表面処理方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-259897
出願人:光洋リンドバーグ株式会社
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特開平2-089309
-
特開平2-208299
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