特許
J-GLOBAL ID:201203002084424483

測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 三好 祥二
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-162010
公開番号(公開出願番号):特開2012-021949
出願日: 2010年07月16日
公開日(公表日): 2012年02月02日
要約:
【課題】安価で簡便に点群データを取得できる測定装置を提供する。【解決手段】測定対象物に対してパルス測距光10を照射する光源部2と、投光光学系3と、前記測定対象物からの反射パルス測距光10′を受光する為の受光光学系4と、受光された反射パルス測距光を検出する為の1つの光検出部を有する受光部6と、該受光部からの検出信号に基づきパルス測距光の発光から反射パルス測距光の受光迄の時間を測定して距離を測定する制御部7とを具備する測定装置に於いて、前記光源部は、前記投光光学系の光軸に対して既知の関係で配列された複数の発光源8と、該発光源を所定の時間間隔で発光させる駆動部9とを有し、前記受光部は、前記発光源と共役の位置に配列され、反射パルス測距光を前記光検出部に導く縮小光学系11,13を有し、前記制御部は、受光素子12からの受光信号24を前記発光源に対応させて判別し、受光信号毎に測距を行う構成した。【選択図】図1
請求項(抜粋):
測定対象物に対してパルス測距光を照射する光源部と、該光源部から発せられたパルス測距光を測定対象物に照射する為の投光光学系と、前記測定対象物からの反射パルス測距光を受光する為の受光光学系と、受光された反射パルス測距光を検出する為の1つの光検出部を有する受光部と、該受光部からの検出信号に基づきパルス測距光の発光から反射パルス測距光の受光迄の時間を測定して距離を測定する制御部とを具備する測定装置に於いて、前記光源部は、前記投光光学系の光軸に対して既知の関係で配列された複数の発光源と、該発光源を所定の時間間隔で発光させる駆動部とを有し、前記受光部は、前記発光源と共役の位置に配列され、反射パルス測距光を前記光検出部に導く縮小光学系を有し、前記制御部は、受光素子からの受光信号を前記発光源に対応させて判別し、受光信号毎に測距を行う様構成したことを特徴とする測定装置。
IPC (2件):
G01S 17/10 ,  G01S 7/48
FI (2件):
G01S17/10 ,  G01S7/48 A
Fターム (13件):
5J084AA05 ,  5J084AD01 ,  5J084BA05 ,  5J084BA11 ,  5J084BA48 ,  5J084BA51 ,  5J084BB02 ,  5J084BB24 ,  5J084BB31 ,  5J084CA12 ,  5J084CA19 ,  5J084EA05 ,  5J084EA31
引用特許:
審査官引用 (9件)
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