特許
J-GLOBAL ID：201203060101617363

断層像撮像装置およびその制御方法、プログラム

発明者：
宮狭 和大

宮狭 和大 について

, 
片山 昭宏

片山 昭宏 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (6件)： 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二 ,  下山 治 ,  永川 行光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-056473
公開番号（公開出願番号）：特開2012-135640
出願日： 2012年03月13日
公開日（公表日）： 2012年07月19日
要約：
【課題】光干渉断層計を用いた断層像撮像装置において、設定された計測範囲において断層像の深さ方向の撮影位置を容易且つ適切に設定可能にする。【解決手段】光干渉断層計により眼底の断層像を撮影する断層像撮像装置は、眼底における二次元の計測範囲の中央部及び端部のいずれか2以上の複数の位置の断層像を取得し、取得された前記複数の位置での断層像を表示装置の画面に隣り合わせで並べて表示させる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
光干渉断層計により眼底の断層像を撮影する断層像撮像装置であって、 前記眼底における二次元の計測範囲の中央部及び端部のいずれか2以上の複数の位置の断層像を取得する取得手段と、 前記取得手段で取得された前記複数の位置での断層像を表示装置の画面に隣り合わせで並べて表示させる表示制御手段と、を有することを特徴とする断層像撮像装置。
IPC (3件)：
A61B 3/12 ,  A61B 3/10 ,  G01N 21/17
FI (3件)：
A61B3/12 E ,  A61B3/10 R ,  G01N21/17 625
Fターム (18件)：
2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE12 ,  2G059FF02 ,  2G059FF09 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM10 ,  2G059PP04
引用特許：
出願人引用 (11件)
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審査官引用 (11件)
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