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J-GLOBAL ID:201402272253991242   整理番号:14A0682413

Si(111)基板上BaSi2エピタキシャル膜の結晶・光学特性評価とガラス基板上への展開

Fabrication and characterization of BaSi2 epitaxial films on Si (111) for developing BaSi2 on glass
著者 (10件):
資料名:
巻: 114  号: 2(OME2014 1-15)  ページ: 35-37  発行年: 2014年04月03日 
JST資料番号: S0532B  ISSN: 0913-5685  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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次世代の高効率薄膜太陽電池の材料として期待されているシリサイド半導体”BaSi2”の結晶成長とその光学的特性について紹介する。BaSi2はSi(111)基板上に3回対称のドメインを有しながらエピタキシャル成長をする。その膜をBaSi2太陽電池として必要な厚さ(1.6μm)まで成長し,少数キャリア寿命をマイクロ波光導電減衰(μ-PCD)法により測定した結果,室温で約8μsと十分大きな値が得られた。さらに,(111)配向したAl誘起成長(AIC)Si層/ガラス上へのBaSi2膜の高配向成長に成功した。安価なガラス基板上へBaSi2太陽電池を展開する基盤技術の構築である。(著者抄録)
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分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
太陽電池  ,  固体デバイス製造技術一般 

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