特許
J-GLOBAL ID：201503003209808350

自動分析装置

発明者：
星 ひとみ

星 ひとみ について

, 
斎藤 充弘

斎藤 充弘 について


出願人/特許権者：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

株式会社日立ハイテクノロジーズ について


代理人 (1件)： 特許業務法人開知国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-007036
公開番号（公開出願番号）：特開2015-135282
出願日： 2014年01月17日
公開日（公表日）： 2015年07月27日
要約：
【課題】予め定められた間隔で精度管理を行うことにより、より信頼性の高い精度管理を行うことができる自動分析装置を提供する。【解決手段】分析対象試料が収容される試料容器17を載置する試料ラックを搬送するための搬送装置9,10に沿って配置され、分析対象試料の定性・定量分析を行う1つ以上の分析ユニット6〜8と、搬送装置により搬送される試料ラック18を一時的に保管するためのラック保管部2とを備え、分析対象試料を分析ユニットによる定性・定量分析で使用可能な状態に調製する調製処理を、その調製処理の条件を予め設定した調製プロトコルに基づいて実施し、分析対象試料の1つである精度管理試料の分析ユニットでの分析結果を用いて分析精度の管理を行う精度管理処理の予め設定された開始時刻に精度管理試料が使用可能状態となるように調製処理を開始する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
分析対象試料が収容される試料容器を載置する試料ラックを搬送するための搬送装置と、 前記搬送手段に沿って配置され、前記分析対象試料の定性・定量分析を行う1つ以上の分析ユニットと、 前記搬送装置により搬送される試料ラックを一時的に保管するためのラック保管部と、 前記分析ユニットによる前記分析対象試料の分析結果を表示する表示装置と、 前記分析対象試料を前記分析ユニットによる定性・定量分析で使用可能な状態に調製する調製処理を、その調製処理の条件を予め設定した調製プロトコルに基づいて実施する調製処理制御部であって、前記分析対象試料の1つである精度管理試料の前記分析ユニットでの分析結果を用いて分析精度の管理を行う精度管理処理の予め設定された開始時刻に前記精度管理試料が使用可能状態となるように前記調製処理を開始する調製処理制御部とを備えたことを特徴とする自動分析装置。
IPC (2件)：
G01N 35/00 ,  G01N 35/02
FI (4件)：
G01N35/00 F ,  G01N35/00 A ,  G01N35/00 B ,  G01N35/02 C
Fターム (15件)：
2G058BA01 ,  2G058BA06 ,  2G058BB02 ,  2G058BB06 ,  2G058BB12 ,  2G058CA02 ,  2G058CB08 ,  2G058CB15 ,  2G058GC03 ,  2G058GC05 ,  2G058GC06 ,  2G058GD03 ,  2G058GE01 ,  2G058GE06 ,  2G058GE09
引用特許：
審査官引用 (9件)
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