特許
J-GLOBAL ID：201303063897086956
自動分析装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
春日 讓
, 猪野木 雄一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-158971
公開番号（公開出願番号）：特開2013-024691
出願日： 2011年07月20日
公開日（公表日）： 2013年02月04日
要約：
【課題】校正試料や精度管理試料の状態を一定に保つことにより、より信頼性の高い校正や精度管理を行うことができる自動分析装置を提供する。【解決手段】分析対象試料が収容される試料容器17を載置する試料ラック18を搬送するための搬送ライン9,10と、搬送ライン9,10に沿って配置され、分析対象試料の定性・定量分析を行う複数の分析ユニット5〜8とを備えた自動分析装置において、分析表示部15に表示した精度管理試料登録情報画面200,300により、分析対象試料を分析に使用可能な状態にする調製処理の条件を定めた精度管理試料情報を設定し、その精度管理試料情報に基づいて分析対象試料の調製処理を行う。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
分析対象試料が収容される試料容器を載置する試料ラックを搬送するための搬送手段と、
前記搬送手段に沿って配置され、前記分析対象試料の定性・定量分析を行う複数の分析ユニットと、
前記搬送手段により搬送される試料ラックを一時的に保管するためのラック保管手段と、
前記分析対象試料を分析に使用可能な状態にする調製処理の条件を定めた調製プロトコルを設定する調製プロトコル設定画面を表示する表示手段と、
オペレータが前記調製プロトコル設定画面を操作して前記調製プロトコルの設定操作を行うための操作手段と、
前記調製プロトコルの設定に基づいて前記分析対象試料の調製処理を行う制御手段と
を備えたことを特徴とする自動分析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N35/00 F
, G01N1/00 102C
2G052AA39
, 2G052EB09
, 2G052FB02
, 2G052FD09
, 2G058BB02
, 2G058BB03
, 2G058BB06
, 2G058CB08
, 2G058CB15
, 2G058GE09
, 2G058GE10
, 2G058HA04
