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J-GLOBAL ID：201902213194584291   整理番号：19A1521212

極性軸配向エピタキシャルPb(Zr,Ti)O₃膜におけるシンクロトロンを用いた時間分解X線回折による印加電場下でのその場格子変形の時間応答実証

Time response demonstration of in situ lattice deformation under an applied electric field by synchrotron-based time-resolved X-ray diffraction in polar-axis-oriented epitaxial Pb(Zr,Ti)O₃ film

著者 (11件)： SATO Tomoya (Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN) ,  ICHINOSE Daichi (Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN) ,  OSHIMA Naoya (Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN) ,  MIMURA Takanori (Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN) ,  NEMOTO Yuichi (Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN) ,  SHIMIZU Takao (Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN) ,  IMAI Yasuhiko (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst. (JASRI), Hyogo, JPN) ,  UCHIDA Hiroshi (Sophia Univ., Tokyo, JPN) ,  SAKATA Osami (Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN) ,  SAKATA Osami (National Inst. for Materials Sci., Hyogo, JPN) ,  FUNAKUBO Hiroshi (Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 57  号： 9  ページ： 0902B8.1-0902B8.5  発行年： 2018年09月 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 結晶構造変化に及ぼす種々の幅の適用矩形パルスの依存性を時間分解シンクロトロンに基づくX線回折測定により調べた。金属有機化学蒸着により,(100) c SrRuO₃//(100)LaNiO₃//(100)CaF₂基板上に成長させた2.1μm厚さの(001)配向エピタキシャルPb(Zr_0.5Ti_0.5)O₃膜を調べた。結晶格子は,0.3μs幅のパルスの場合,230kV/cmまでの印加電場の増加とともにほぼ直線的に増加した。電場の印加によるこの伸びは,190kV/cmで0.3から2000μsまでのパルス幅にほとんど依存しないことを確認した。これらの値は,圧電力顕微鏡により,5および1000Hzで得られた巨視的測定とほぼ一致した。時間分解XRD測定は,結晶構造変化の観点から圧電応答の周波数依存性を解析するのに非常に有用であることを示したが,これは,印加パルス幅を変えることにより,印加電場下での結晶構造変化を系統的に調べることができるからである。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 薄膜 ,  極性 ,  配向 ,  *ジルコニウム酸塩 ,  *チタン酸塩 ,  *バリウム化合物 ,  *X線回折 ,  電圧 ,  その場観察 ,  *変形 ,  応答特性 ,  信号解析 ,  信号特性 ,  結晶構造 ,  MOCVD ,  結晶格子 ,  力顕微鏡 ,  周波数依存性 ,  エピタキシャル膜 ,  *チタン酸ジルコニウム酸バリウム ,  印加電圧 ,  *格子変形 ,  圧電応答力顕微鏡 ,  *放射光X線回折
準シソーラス用語： c軸配向 ,  *シンクロトロンX線回折 ,  時間応答 ,  金属有機化学蒸着

分類 (2件)： 強誘電体,反強誘電体,強弾性  (BM05030B) ,  金属酸化物及び金属カルコゲン化物の結晶構造  (BK07020Y)

引用文献 (31件)：

• J. F. Scott and C. A. Paz De Araujo, Science 246, 1400 (1989).
• P. Muralt, M. Kohli, T. Maeder, and N. Setter, Microelectron. Eng. 29, 67 (1995).
• T. Fujii, Y. Hishinuma, T. Mita, and T. Naono, Sens. Actuators A 163, 220 (2010).
• C.-B. Eom and S. Trolier-Mckinstry, MRS Bull. 37, 1007 (2012).
• Q. Lin, R. Ding, Q. Li, Y. Y. Tay, D. Wang, Y. Liu, Y. Huang, and S. Li, J. Am. Ceram. Soc. 99, 2347 (2016).

タイトルに関連する用語 (14件)： 配向 ,  エピタキシャル ,  Pb ,  Zr ,  Ti ,  O3 ,  シンクロトロン ,  分解 ,  X線回折 ,  印加 ,  電場 ,  格子変形 ,  時間応答 ,  実証