Pat
J-GLOBAL ID:200903022601950307
III族窒化物半導体薄膜およびIII族窒化物半導体発光素子
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
,
Agent (1):
酒井 宏明
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006077492
Publication number (International publication number):2007254175
Application date: Mar. 20, 2006
Publication date: Oct. 04, 2007
Summary:
【課題】より高品質のIII族窒化物半導体薄膜およびそれを用いたIII族窒化物半導体発光素子を提供する。【解決手段】縞状に複数の溝が形成された(1-102)面(いわゆるr面)のサファイア基板110上に、AlInNからなるバッファ層120を、MOCVD装置を用いて常圧のもとで形成し、該バッファ層120上に、Al/In/Ga/Nからなる中間層130を、パルス原子層エピタキシー法によって形成し、その中間層130の上に(11-20)面(いわゆるa面)のGaN層を高温でエピタキシャル成長する。これによりIII族窒化物半導体薄膜を得る。また、そのIII族窒化物半導体薄膜を基板としてIII族窒化物半導体発光素子を作成する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
表面に凹凸が形成された基板と、
前記基板上に位置し、III族窒化物からなるバッファ層と、
前記バッファ層上に位置し、(11-20)面の窒化ガリウムからなるエピタキシャル成長層と、
を含むことを特徴とするIII族窒化物半導体薄膜。
IPC (4):
C30B 29/38
, C30B 25/18
, H01L 21/205
, H01L 33/00
FI (4):
C30B29/38 D
, C30B25/18
, H01L21/205
, H01L33/00 C
F-Term (39):
4G077AA03
, 4G077AB02
, 4G077BE15
, 4G077DB08
, 4G077ED04
, 4G077ED05
, 4G077ED06
, 4G077EF01
, 4G077EF03
, 4G077HA02
, 4G077HA12
, 4G077TB05
, 4G077TC14
, 4G077TC19
, 4G077TK01
, 4G077TK04
, 4G077TK06
, 5F041AA40
, 5F041CA05
, 5F041CA40
, 5F041CA46
, 5F041CA65
, 5F041CA74
, 5F041CA82
, 5F041CA83
, 5F041CA92
, 5F045AA04
, 5F045AB14
, 5F045AB18
, 5F045AC08
, 5F045AC12
, 5F045AD12
, 5F045AD13
, 5F045AD14
, 5F045AF09
, 5F045BB12
, 5F045CA10
, 5F045CA12
, 5F045DA53
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
-
III 族窒化物半導体装置およびその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-055590
Applicant:富士電機株式会社
-
窒化炭素単結晶膜
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-036075
Applicant:住友電気工業株式会社
-
米国特許出願公開第2003/0198837号明細書
Cited by examiner (1)
Article cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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