Pat
J-GLOBAL ID:200903024798085028

エピタキシャルウェハおよびその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 越場 隆
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998078333
Publication number (International publication number):1998316498
Application date: Mar. 11, 1998
Publication date: Dec. 02, 1998
Summary:
【要約】【課題】 立方晶半導体(111) 基板上に形成されたGaN層を有するエピタキシャルウェハを提供する。【解決手段】 立方晶半導体(111) 基板と、前記基板上に形成された厚さが60nm以上の第1のGaN層と、第1のGaN層上に形成された厚さ 0.1μm以上の第2のGaN層とを備える。
Claim (excerpt):
立方晶半導体(111) 基板と、前記基板上に形成された厚さが60nm以上の第1のGaN層と、第1のGaN層上に形成された厚さ 0.1μm以上の第2のGaN層とを備えることを特徴とするエピタキシャルウェハ。
IPC (4):
C30B 29/38 ,  C30B 29/42 ,  H01L 21/20 ,  H01L 33/00
FI (4):
C30B 29/38 D ,  C30B 29/42 ,  H01L 21/20 ,  H01L 33/00 C
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (8)
Show all
Cited by examiner (8)
Show all
Article cited by the Patent:
Return to Previous Page