Pat
J-GLOBAL ID:200903026653595870
AlNエピタキシャル層の成長方法及び気相成長装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
伊藤 充
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005028489
Publication number (International publication number):2005252248
Application date: Feb. 04, 2005
Publication date: Sep. 15, 2005
Summary:
【課題】 サファイア基板上又はSi基板上に良質のAlN結晶を高速成長させることができるAlNのエピタキシャル成長方法を提供することを目的とする。【解決手段】 第一ガス導入ポート12から、HCl+H2を導入し750°C以下でAl金属とHClを反応させAlCl3を生成する。第二ガス導入ポート14からNH3+H2を導入し混合部でNH3とAlCl3とを混合させる。混合したガスを基板部に輸送し反応させAlNを生成する。混合部は原料反応部で生成されたAlCl3の石英反応チャンバー18内での析出が起きない温度で、かつ、混合部でのAlNの析出が起きない温度範囲80°C以上750°C以下に保つ。基板結晶24は、高周波加熱によって900°Cから1700°Cに維持される。この結果、基板結晶24への途中でAlNが析出してしまうことを防止し、AlNエピタキシャル成長速度が向上する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
アルミニウムの原料と、窒素の原料と、を混合したガス中に基板結晶を配置し、前記基板結晶上にAlNを結晶成長させる方法において、
前記基板結晶の温度を、前記ガスの温度より高くすることを特徴とするAlNエピタキシャル層の成長方法。
IPC (5):
H01L21/205
, C23C16/34
, C23C16/46
, C30B25/14
, C30B29/38
FI (5):
H01L21/205
, C23C16/34
, C23C16/46
, C30B25/14
, C30B29/38 C
F-Term (55):
4G077AA03
, 4G077BE13
, 4G077DB05
, 4G077DB11
, 4G077DB21
, 4G077EA02
, 4G077EA06
, 4G077EC01
, 4G077ED06
, 4G077EF03
, 4G077EG22
, 4G077FJ03
, 4G077HA02
, 4G077HA05
, 4G077TA04
, 4G077TA07
, 4G077TB05
, 4G077TC01
, 4G077TC06
, 4G077TC07
, 4G077TC13
, 4G077TC14
, 4G077TC17
, 4G077TH01
, 4G077TK01
, 4G077TK08
, 4G077TK11
, 4K030AA03
, 4K030AA13
, 4K030BA02
, 4K030BA38
, 4K030CA04
, 4K030CA05
, 4K030CA12
, 4K030EA01
, 4K030FA10
, 4K030JA10
, 4K030KA24
, 4K030KA25
, 5F045AA04
, 5F045AB09
, 5F045AC03
, 5F045AC12
, 5F045AD13
, 5F045AD14
, 5F045AD15
, 5F045AD16
, 5F045AD17
, 5F045AD18
, 5F045AF09
, 5F045BB16
, 5F045CA10
, 5F045CA12
, 5F045DP03
, 5F045DQ05
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
Cited by examiner (6)
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