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J-GLOBAL ID：200903029709186268

X線分光装置およびX線分析装置

Inventor：
宇高 忠

About 宇高 忠

, 
中嶋 佳秀

About 中嶋 佳秀


Applicant, Patent owner：
アワーズテック株式会社

About アワーズテック株式会社


Agent (1)： 山村 喜信
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000392192
Publication number (International publication number)：2002195963
Application date： Dec. 25, 2000
Publication date： Jul. 10, 2002
Summary：
【要約】【課題】 可搬型としての小型性を損なうことなく、軽元素の分析や微量の重元素の分析に適したX線分光装置およびX線分析装置を提供する。【解決手段】 内周面でX線11を分光する半円環状ないし円環状の第1および第2の分光素子3a,3bを備え、前記第1および第2の分光素子3a,3bが同軸上に設けられ、前記両分光素子3a,3bの軸線35上に、前記両分光素子3a,3bで分光されないX線を遮光する制限部材34が設けられている。
Claim (excerpt)：
内周面でX線を分光する半円環状ないし円環状の第1および第2の分光素子を備え、前記第1および第2の分光素子が同軸上に設けられ、前記両分光素子の軸線上に、前記両分光素子で分光されないX線を遮光する制限部材が設けられたX線分光装置。
IPC (4)：
G01N 23/223 ,  G21K 1/02 ,  G21K 1/04 ,  G21K 1/06
FI (5)：
G01N 23/223 ,  G21K 1/02 R ,  G21K 1/04 S ,  G21K 1/06 B ,  G21K 1/06 G
F-Term (17)：
2G001AA01 ,  2G001AA09 ,  2G001BA04 ,  2G001CA01 ,  2G001DA02 ,  2G001EA02 ,  2G001EA03 ,  2G001EA09 ,  2G001EA20 ,  2G001GA01 ,  2G001HA09 ,  2G001HA13 ,  2G001KA01 ,  2G001NA16 ,  2G001PA07 ,  2G001SA02 ,  2G001SA10
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (14)
  • 特開昭60-233600
  • X線照射装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-315147   Applicant：株式会社ニコン
  • 特開平4-232830
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

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