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J-GLOBAL ID：200903032292682772

表面増強振動分光分析用治具およびその製造方法

Inventor：
小中原 馨

About 小中原 馨


Applicant, Patent owner：
キヤノン株式会社

About キヤノン株式会社


Agent (2)： 山下 穣平 ,  永井 道雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007128268
Publication number (International publication number)：2008281529
Application date： May. 14, 2007
Publication date： Nov. 20, 2008
Summary：
【課題】強度が微弱なラマン散乱光や赤外吸収を、感度よく測定できる表面増強振動分光分析用治具およびその製造方法を提供する。【解決手段】表面増強振動分光分析用の治具であって、基板と、該基板上に形成された下地膜と、該下地膜上に形成されたベースとを備え、前記ベースは、基板に対して垂直方向に形成された複数の細孔を有し、かつ、前記細孔の側面および前記ベースの表面には、金属微粒子が露出していることを特徴とする表面増強振動分光分析用治具。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
表面増強振動分光分析用の治具であって、 基板と、該基板上に形成された下地膜と、該下地膜上に形成されたベースとを備え、 前記ベースは、基板に対して垂直方向に形成された複数の細孔を有し、かつ、 前記細孔の側面および前記ベースの表面には、金属微粒子が露出していることを特徴とする表面増強振動分光分析用治具。
IPC (3)：
G01N 21/65 ,  G01N 21/35 ,  G01N 21/27
FI (3)：
G01N21/65 ,  G01N21/35 Z ,  G01N21/27 C
F-Term (19)：
2G043AA01 ,  2G043BA14 ,  2G043BA17 ,  2G043CA04 ,  2G043DA01 ,  2G043EA03 ,  2G043KA09 ,  2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059CC12 ,  2G059DD01 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE03 ,  2G059EE12 ,  2G059GG01 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ12
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (7)
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Cited by examiner (5)
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