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J-GLOBAL ID:200903035379599080
炭化けい素ショットキーダイオードの製造方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
山口 巖
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995061050
Publication number (International publication number):1996264812
Application date: Mar. 20, 1995
Publication date: Oct. 11, 1996
Summary:
【要約】【目的】高温に耐え得る半導体材料よりなるSiCを用いた高耐圧化の可能なショットキーダイオードのショットキー電極が、高温でSiCと反応せず、また密着性が良好で剥離が起きないようにする。【構成】n形SiCの上にAl-Ti合金により、あるいはAl膜とTi膜を交互に積層してショットキー電極を形成し、高温で熱処理する。そして、ショットキー接合の周りにp形SiC層を形成してpn接合を設けることにより、ショットキー接合周縁における電界集中を防ぎ、高耐圧特性を安定化させる。
Claim (excerpt):
n形炭化けい素半導体素体表面にアルミニウムおよびチタンよりなる電極層を被着したのち、これを600〜1200°Cの温度範囲で熱処理してショットキー電極を形成することを特徴とする炭化けい素ショットキーダイオードの製造方法。
FI (2):
H01L 29/48 M
, H01L 29/48 D
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (19)
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高耐圧ショットキー・ダイオード
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-037995
Applicant:株式会社東芝
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特開平2-264475
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シヨツトキ障壁を有する半導体装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-263644
Applicant:サンケン電気株式会社
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特開平4-355965
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特開平3-025976
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炭化けい素ショットキーダイオードの製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-228560
Applicant:富士電機株式会社
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半導体素子
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-053469
Applicant:株式会社東芝
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シヨツトキ障壁を有する半導体装置の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-230187
Applicant:サンケン電気株式会社
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シヨツトキ障壁を有する半導体装置の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-230186
Applicant:サンケン電気株式会社
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光半導体装置およびその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-222234
Applicant:株式会社東芝
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特開平4-317374
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特開平3-133176
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特開平2-045976
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特開平1-125870
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特開昭62-071271
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特開昭58-064066
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特開昭55-083253
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高耐圧炭化珪素ショットキ-・ダイオ-ド
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-051835
Applicant:株式会社東芝
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特開平1-161760
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