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J-GLOBAL ID:200903044535917410
トランジスタ及びその製造方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (4):
志賀 正武
, 渡邊 隆
, 村山 靖彦
, 実広 信哉
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2008313263
Publication number (International publication number):2009218562
Application date: Dec. 09, 2008
Publication date: Sep. 24, 2009
Summary:
【課題】トランジスタを提供する。【解決手段】チャンネル層、チャンネル層の両端にそれぞれ接触されたソース及びドレイン、チャンネル層と離隔されたゲート電極、チャンネル層とゲート電極との間に備わったゲート絶縁層、及びチャンネル層とゲート絶縁層との間に備わり、チャンネル層と仕事関数が異なる挿入層を備えるトランジスタである。【選択図】図1
Claim (excerpt):
チャンネル層と、
前記チャンネル層の両端にそれぞれ接触されたソース及びドレインと、
前記チャンネル層と離隔されたゲート電極と、
前記チャンネル層と前記ゲート電極との間に備わったゲート絶縁層と、
前記チャンネル層と前記ゲート絶縁層との間に備わり、前記チャンネル層と仕事関数が異なる挿入層とを備えるトランジスタ。
IPC (1):
FI (3):
H01L29/78 618E
, H01L29/78 618B
, H01L29/78 618G
F-Term (25):
5F110AA01
, 5F110AA05
, 5F110AA08
, 5F110AA14
, 5F110BB01
, 5F110BB03
, 5F110BB05
, 5F110CC01
, 5F110CC07
, 5F110DD01
, 5F110DD02
, 5F110DD05
, 5F110FF02
, 5F110FF03
, 5F110GG01
, 5F110GG06
, 5F110GG19
, 5F110GG33
, 5F110GG42
, 5F110GG43
, 5F110HK02
, 5F110HK21
, 5F110NN02
, 5F110NN23
, 5F110NN24
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
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ドープされた部分を有する堆積チャネル領域を含むトランジスタ
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2006-551083
Applicant:ヒューレット-パッカードデベロップメントカンパニーエル.ピー.
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アモルファス酸化物層を用いた薄膜トランジスタ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-258270
Applicant:キヤノン株式会社
-
半導体装置、半導体基板およびその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-254958
Applicant:株式会社東芝
-
半導体装置及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-018243
Applicant:三洋電機株式会社
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薄膜トランジスタ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-219107
Applicant:株式会社半導体エネルギー研究所
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特開平3-034461
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pチャネル型電界効果トランジスタ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-119576
Applicant:松下電器産業株式会社
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窒化物半導体電界効果トランジスタ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-247209
Applicant:独立行政法人産業技術総合研究所
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半導体装置およびその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-086215
Applicant:松下電器産業株式会社
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