表面増強振動分光分析用プローブおよびその製造方法

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：山下穣平 , 永井道雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007128271
Publication number (International publication number)：2008281530
Application date： May. 14, 2007
Publication date： Nov. 20, 2008
Summary：

【課題】試料に損傷を与えない程度の強さのレーザー光に対しても優れた検出感度を有し、かつ長寿命である表面増強振動分光分析用プローブおよびその製造方法を提供する。【解決手段】表面増強振動分光分析用プローブであって、該プローブはカンチレバーに形成されており、該プローブの内部には複数の金属微粒子が分散しており、かつ該プローブの表面に複数の該金属微粒子が露出していることを特徴とする表面増強振動分光分析用プローブ。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

表面増強振動分光分析用プローブであって、該プローブはカンチレバーに形成されており、該プローブの内部には複数の金属微粒子が分散しており、かつ該プローブの表面に複数の該金属微粒子が露出していることを特徴とする表面増強振動分光分析用プローブ。

IPC (2)：

G01N 21/65 , G01N 21/27

FI (2)：

G01N21/65 , G01N21/27 C

F-Term (15)：

2G043AA03 , 2G043CA05 , 2G043EA03 , 2G043GA04 , 2G043GB02 , 2G043GB05 , 2G043HA01 , 2G043JA01 , 2G043LA03 , 2G059AA02 , 2G059AA05 , 2G059BB20 , 2G059EE03 , 2G059GG01 , 2G059KK04

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

微細構造体、微細構造体の作製方法、ラマン分光方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2003-411790 Applicant：富士写真フイルム株式会社

Cited by examiner (7)

記録媒体、近視野光ヘッド、光記録装置、及びそれらの製造方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-001677 Applicant：セイコーインスツルメンツ株式会社
近接場顕微鏡用プローブおよびその製造方法ならびにそのプローブを用いた走査型プローブ顕微鏡
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-255133 Applicant：エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社, 独立行政法人理化学研究所
フォトン走査トンネル顕微鏡用ピックアップ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-038585 Applicant：シャープ株式会社

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