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J-GLOBAL ID:200903061646429034
表面検査装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
久保田 直樹
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007027169
Publication number (International publication number):2008046103
Application date: Feb. 06, 2007
Publication date: Feb. 28, 2008
Summary:
【課題】大型の対象物の光沢面の検査に好適なLED照明装置を備えた表面検査装置を提供すること。【解決手段】表面検査装置は、LEDを使用した照明装置11、対象物の表面に写り込んだ照明装置11の発光面を撮影するためのカメラ12、カメラ12を任意の位置および方向に移動可能なロボットアーム10、ロボットアームを予め定められた経路に従って移動させ、カメラによる撮影の指示を繰り返すシーケンサ、カメラにより撮影された画像を取り込み、傷を検出して位置を表示するするコントローラを備える。照明にLEDを使用することにより、発光面の面積が広く、広い面積に渡ってむらが少なく均一で、余分な拡散光が少ない照明が可能となるので、検出精度が向上すると共に検査時間が短縮できる。【選択図】図1
Claim (excerpt):
対象物の表面に写り込んだ照明装置の像を撮影するための画像撮影手段と、
前記画像撮影手段と所定の位置関係に固着されたLEDを使用した照明手段と、
前記画像撮影手段を任意の位置および方向に移動可能なロボットアーム手段と、
前記ロボットアーム手段を予め定められた経路に従って移動させる動作と前記画像撮影手段による撮影とを繰り返すことにより対象物の画像データを取得する制御手段と、
撮影された画像から傷の位置を検出する傷検出手段と、
前記ロボットアーム手段から画像撮影手段の位置情報を取得し、前記傷検出手段から画像内における傷位置情報を取得して、対象物上の傷位置を算出して表示する傷位置表示手段と
を備えたことを特徴とする表面検査装置。
IPC (5):
G01B 11/30
, G01N 21/84
, G01N 21/88
, G01B 11/00
, G06T 1/00
FI (5):
G01B11/30 A
, G01N21/84 E
, G01N21/88 Z
, G01B11/00 H
, G06T1/00 300
F-Term (56):
2F065AA01
, 2F065AA49
, 2F065BB05
, 2F065BB21
, 2F065CC11
, 2F065DD02
, 2F065DD06
, 2F065DD09
, 2F065FF01
, 2F065FF04
, 2F065GG07
, 2F065GG14
, 2F065GG23
, 2F065GG24
, 2F065HH02
, 2F065JJ02
, 2F065JJ25
, 2F065LL04
, 2F065LL49
, 2F065MM06
, 2F065PP25
, 2F065QQ03
, 2F065QQ23
, 2F065QQ25
, 2F065RR06
, 2F065SS13
, 2F065UU01
, 2F065UU05
, 2G051AA89
, 2G051AB02
, 2G051AB12
, 2G051BA01
, 2G051BA08
, 2G051BA10
, 2G051BA20
, 2G051BB09
, 2G051CA03
, 2G051CB01
, 2G051DA03
, 2G051EA12
, 2G051EA17
, 2G051ED09
, 5B057AA05
, 5B057BA02
, 5B057BA12
, 5B057BA15
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CB12
, 5B057CB16
, 5B057DA03
, 5B057DA08
, 5B057DA16
, 5B057DB02
, 5B057DB09
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
-
鏡面検査方法およびその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-211954
Applicant:有限会社スインク
Cited by examiner (16)
-
特開昭62-261006
-
表面欠陥検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-376401
Applicant:ダイハツ工業株式会社
-
特開平4-204148
-
特開昭62-105037
-
欠陥検査方法およびその方法を用いた欠陥検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-062505
Applicant:オムロン株式会社
-
検査用照明装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-352453
Applicant:シーシーエス株式会社
-
外観検査方法、外観検査装置及び電子回路基板の製造装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-185855
Applicant:ソニー株式会社
-
検査方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-198169
Applicant:松下電器産業株式会社
-
表面欠陥検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-189132
Applicant:スズキ株式会社
-
表面状態検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-015883
Applicant:マツダ株式会社
-
物体検出装置および方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-255615
Applicant:松下電器産業株式会社
-
表面欠陥検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-053325
Applicant:日産自動車株式会社
-
ワーク表面検査方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-329384
Applicant:本田技研工業株式会社
-
表面状態検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-014307
Applicant:マツダ株式会社
-
塗装表面検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-204330
Applicant:マツダ株式会社
-
照明装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-108443
Applicant:オムロン株式会社
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