Pat
J-GLOBAL ID:200903069108769624
ダイヤモンド電子素子
Inventor:
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,
Applicant, Patent owner:
,
Agent (4):
長谷川 芳樹
, 寺崎 史朗
, 黒木 義樹
, 近藤 伊知良
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2008041823
Publication number (International publication number):2009200343
Application date: Feb. 22, 2008
Publication date: Sep. 03, 2009
Summary:
【課題】低抵抗値であり高剛性のダイヤモンド電子素子を提供する。【解決手段】第1の表面M1と第1の表面M1の反対側にある第2の表面M2とを有し、第1の表面M1から第2の表面M2に貫通する一または複数のコンタクトホール12の形成されたダイヤモンド基板2と、ダイヤモンド基板2の第1の表面M1上に設けられ、ダイヤモンドを含むp型のバルク層8またはバルク層20と、バルク層8またはバルク層20上に設けられ、ダイヤモンドを含むドリフト層10と、ドリフト層10上に設けられたショットキー電極16と、コンタクトホール12内に設けられ、バルク層8またはバルク層20に接続されたオーミック電極14とを備える。【選択図】図1
Claim (excerpt):
第1の表面と該第1の表面の反対側にある第2の表面とを有し、前記第1の表面から前記第2の表面に貫通する一または複数のコンタクトホールの形成されたダイヤモンド基板と、
前記ダイヤモンド基板の前記第1の表面上に設けられ、ダイヤモンドを含む所定導電型のバルク層と、
前記バルク層上に設けられ、ダイヤモンドを含むドリフト層と、
前記ドリフト層上に設けられたショットキー電極と、
前記コンタクトホール内に設けられ、前記バルク層に接続されたオーミック電極と
を備える、ことを特徴とするダイヤモンド電子素子。
IPC (2):
FI (2):
H01L29/48 F
, H01L29/48 D
F-Term (21):
4K030AA10
, 4K030AA17
, 4K030BA27
, 4K030BB12
, 4K030CA04
, 4K030DA02
, 4K030FA01
, 4K030LA11
, 4M104AA10
, 4M104BB04
, 4M104BB06
, 4M104BB09
, 4M104BB15
, 4M104BB16
, 4M104CC03
, 4M104DD07
, 4M104DD15
, 4M104FF02
, 4M104FF27
, 4M104FF31
, 4M104GG03
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
-
高濃度不純物ダイヤモンド薄膜及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-008118
Applicant:独立行政法人産業技術総合研究所
-
背面に接触子のある素子およびその素子の製造方法
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2000-552719
Applicant:ゲーエフデー-ゲゼルシャフトフュアディアマントプロドゥクテエムベーハー
-
半導体装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-344338
Applicant:株式会社東芝
-
特開平4-022172
-
ダイヤモンド素子及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-280661
Applicant:独立行政法人産業技術総合研究所
-
バックサイドビアを含む窒化ガリウム材料デバイスおよび方法
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2002-568431
Applicant:ニトロネックス・コーポレーション
-
半導体装置及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-322856
Applicant:株式会社東芝
-
SiC半導体素子
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-077213
Applicant:株式会社東芝
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