Pat
J-GLOBAL ID:200903074751453522
分子線エピタキシ法
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
山本 秀策
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998062656
Publication number (International publication number):1998265298
Application date: Mar. 13, 1998
Publication date: Oct. 06, 1998
Summary:
【要約】【課題】 分子線エピタキシによりIII族窒化物材料をエピタキシャルに成長させる改良方法を提供する。【解決手段】 分子線エピタキシによってIII族窒化物材料の層を基板上に成長させる方法は、真空チャンバ内に基板を配置する工程と、真空チャンバ内の圧力を分子線エピタキシによるエピタキシャル成長に適切な圧力に減少させる工程と、アンモニアを第1の供給管の出口を通して真空チャンバ内に供給し、アンモニアを基板に向けてフローさせる工程と、III族元素を元素形態で第2の供給管の出口を通して真空チャンバ内に供給し、III族元素を基板の方にフローさせ、III族窒化物を含有する層を分子線エピタキシによって基板上に成長させる工程とを包含する。この方法において第1の供給管の出口は、第2の供給管の出口よりも基板により近接して配置されている。
Claim (excerpt):
分子線エピタキシによってIII族窒化物材料の層を基板上に成長させる方法であって、(i)真空チャンバ内に基板を配置する工程と、(ii)該真空チャンバ内の圧力を分子線エピタキシによるエピタキシャル成長に適切な圧力に減少させる工程と、(iii)アンモニアを第1の供給管の出口を通して該真空チャンバ内に供給し、該アンモニアを該基板に向けてフローさせる工程と、(iv)III族元素を元素形態で第2の供給管の出口を通して該真空チャンバ内に供給し、該III族元素を該基板の方にフローさせ、これによって、III族窒化物を含有する層を分子線エピタキシによって該基板上に成長させる工程と、を包含し、該第1の供給管の該出口が、該第2の供給管の該出口よりも該基板により近接して配置されている、方法。
IPC (3):
C30B 29/38
, C30B 23/08
, H01L 21/203
FI (3):
C30B 29/38 D
, C30B 23/08 M
, H01L 21/203 M
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (10)
-
特開昭59-057997
-
窒化ガリウム系薄膜の成長方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-265835
Applicant:旭化成工業株式会社
-
選択成長用マスクの形成方法及びその除去方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-290193
Applicant:光技術研究開発株式会社
-
エピタキシャルウエハの製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-139625
Applicant:三菱化学株式会社
-
特開平3-153599
-
エピタキシャル結晶成長装置用励起セル装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-070353
Applicant:新日本製鐵株式会社, 日本真空技術株式会社
-
酸化物薄膜の成膜方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-190854
Applicant:住友電気工業株式会社
-
分子線エピタキシー装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-102300
Applicant:新日本製鐵株式会社
-
半導体発光素子層の形成方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-159296
Applicant:ソニー株式会社
-
立方晶窒化アルミニウム薄膜およびその合成方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-127564
Applicant:財団法人ファインセラミックスセンター, 住友電気工業株式会社
Show all
Cited by examiner (4)