Pat
J-GLOBAL ID:200903077076765101
窒化物半導体材料を用いたヘテロ接合電界効果型トランジスタ
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002055304
Publication number (International publication number):2003257999
Application date: Mar. 01, 2002
Publication date: Sep. 12, 2003
Summary:
【要約】【課題】窒化ガリウム系へテロ接合電界効果型トランジスタにおいて、バリアーの構造を改善し、ゲート電流を低減して、移動度を高め、トランジスタ性能の向上を図った構造のヘテロ接合電界効果型トランジスタおよびその製造方法を提供する。【解決手段】窒化物半導体を用いた電界効果型トランジスタの構造は、窒化ガリウム層とバリアーのヘテロ接合近くに形成されるチャンネルに接するバリアーの部分を、厚さ2nm以下の窒化アルミニウム層と厚さ2nm以下の窒化ガリウム層の多層構造とする。
Claim (excerpt):
窒化物半導体を用いた電界効果型トランジスタであって、窒化ガリウム層とバリアーのヘテロ接合近くに形成されるチャンネルに接するバリアーの部分が厚さ2nm以下の窒化アルミニウム層と厚さ2nm以下の窒化ガリウム層の多層構造であることを特徴とする電界効果型トランジスタ。
IPC (3):
H01L 21/338
, H01L 29/778
, H01L 29/812
F-Term (18):
5F102GB01
, 5F102GC01
, 5F102GD01
, 5F102GJ02
, 5F102GJ10
, 5F102GL04
, 5F102GM08
, 5F102GN04
, 5F102GQ01
, 5F102GR01
, 5F102GR04
, 5F102GR07
, 5F102GS01
, 5F102GT03
, 5F102HC01
, 5F102HC04
, 5F102HC07
, 5F102HC16
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
-
ヘテロ接合電界効果トランジスタ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-088973
Applicant:日本電気株式会社
-
半導体装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-196751
Applicant:日本電気株式会社
-
半導体電界効果トランジスタ及び電力増幅器
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-248484
Applicant:株式会社東芝
-
3-5族化合物半導体チップの製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-075380
Applicant:住友化学工業株式会社
-
III族窒化物薄膜の形成方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-366723
Applicant:日本真空技術株式会社, 経済産業省産業技術総合研究所長
-
特開昭56-063769
Show all
Return to Previous Page