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J-GLOBAL ID：200903081798155321

X線検査装置、X線検査方法およびX線検査プログラム

Inventor：
寺本 篤司

About 寺本 篤司

, 
村越 貴行

About 村越 貴行


Applicant, Patent owner：
名古屋電機工業株式会社

About 名古屋電機工業株式会社


Agent (2)： 横井 俊之 ,  岩上 渉
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005163716
Publication number (International publication number)：2006184267
Application date： Jun. 03, 2005
Publication date： Jul. 13, 2006
Summary：
【課題】 多数の検査対象品を高速に検査することが困難であった。【解決手段】 X線によって検査対象を検査するにあたり、固定的に配置されたX線源から所定の立体角の範囲にX線を出力し、上記X線の出力範囲内で平面的に検査対象品を移動させ、上記立体角に含まれる位置であるとともに上記検査対象品の移動平面に対して垂直な軸を中心にした複数の回転位置において、上記軸に対して傾斜した検出面でX線を検出し、同検出されたX線に基づいて上記検査対象品の検査を行う。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
固定的に配置されたX線源から所定の立体角の範囲にX線を出力するX線出力手段と、 上記X線の出力範囲内で平面的に検査対象品を移動させる平面移動手段と、 上記立体角に含まれる位置であるとともに上記検査対象品の移動平面に対して垂直な軸を中心にした複数の回転位置において、上記軸に対して傾斜した検出面でX線を検出するX線検出手段と、 同検出されたX線に基づいて上記検査対象品の検査を行う対象品検査手段とを備えることを特徴とするX線検査装置。
IPC (1)：
G01N 23/04
FI (1)：
G01N23/04
F-Term (17)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA09 ,  2G001FA06 ,  2G001GA06 ,  2G001GA13 ,  2G001HA07 ,  2G001HA13 ,  2G001JA06 ,  2G001JA07 ,  2G001KA03 ,  2G001LA11 ,  2G001MA05 ,  2G001PA11 ,  2G001SA04 ,  2G001SA14
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
  • X線透過検査装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-169438   Applicant：オーエヌ電子株式会社
Cited by examiner (23)
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

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