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J-GLOBAL ID：200903089571771116

ラブ・オン・チップのための吸光検出システム

Inventor： 韓 宗 勲 ,  魯 庚 元 ,  沈 奉 柱 ,  林 ▲クァン▼ 燮
Applicant, Patent owner： 浦項工科大学校
Agent (1)： 小野 由己男 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002207735
Publication number (International publication number)：2003114193
Application date： Jul. 17, 2002
Publication date： Apr. 18, 2003
Summary：

【要約】【課題】 吸光検出を効率良く、且つ高感度にて行えるラブ・オン・チップのための吸光検出システムを提供する。【解決手段】 50μm〜5mmの光路長を有する検出セル1と、検出セル1に光を平行に通過させるレンズを設けるためのレンズ25と、散乱光が検出器に入ることを防止するためのスリット19とを含み、検出セル1、レンズ25及びスリット19が前記ラブ・オン・チップと一体形に形成されたラブ・オン・チップのための吸光検出システム。よって、試料の特性に制限がなく、種々なる試料の検出に用いることができ、試料にラベルを付ける必要がないため、従来に比べて手間及びコストがかからず、吸光検出を効率良く、且つ高感度にて行える。さらに、本発明は、ラブ・オン・チップのための様々な研究分野において、試料検出のための反応無しに各種の物質の検出に幅広く利用可能である。

Claim (excerpt)：

50μm〜5mmの光路長を有する検出セルと、前記検出セルに光を平行に通過させるレンズを設けるためのレンズ構造物と、散乱光が検出器に入ることを防止するためのスリット構造物とを含むラブ・オン・チップのための吸光検出システムであって、前記検出セル、レンズ構造物及びスリット構造物が前記ラブ・オン・チップと一体形に形成された、ラブ・オン・チップのための吸光検出システム。

IPC (3)：

G01N 21/59 ,  G01N 21/03 ,  G01N 37/00 101

FI (3)：

G01N 21/59 Z ,  G01N 21/03 Z ,  G01N 37/00 101

F-Term (27)：

2G057AA01 ,  2G057AB04 ,  2G057AB06 ,  2G057AC01 ,  2G057BA01 ,  2G057BB06 ,  2G057DA01 ,  2G057DA04 ,  2G057DA05 ,  2G057DB01 ,  2G057DC06 ,  2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059CC01 ,  2G059CC12 ,  2G059DD12 ,  2G059EE01 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ17 ,  2G059LL01 ,  2G059LL03 ,  2G059LL04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (11)

• 毛細管電気泳動装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-100892   Applicant：株式会社日立製作所
• 近赤外線分析装置用試料セル及びその製造方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-044161   Applicant：株式会社ジャパンエナジー
• 微小流路素子
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-095864   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
• 検出計セル
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-291618   Applicant：株式会社島津製作所
• 蛍光センサー素子を備える測定チャンバー
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-364296   Applicant：エフ.ホフマン-ラロッシュアーゲー
• 検出計セルおよび光学測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-161317   Applicant：株式会社島津製作所
• 光走査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-274878   Applicant：東芝テック株式会社
• マイクロチップ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-248884   Applicant：ミノルタ株式会社
• 光導波路型SPR現象測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-355354   Applicant：日本電信電話株式会社, エヌ・ティ・ティ・アドバンステクノロジ株式会社
• 流体流れ中の物理的および化学的パラメータを連続的に測定するための装置
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願平8-532442   Applicant：フアーマシア・バイオテツク・アー・ベー
• 測定装置及びその使用方法
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願平10-523209   Applicant：ノバルティスアクチエンゲゼルシャフト