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J-GLOBAL ID：200903098984880141

全反射減衰を利用した測定装置及びその測定方法

Inventor：
村石 勝明

About 村石 勝明


Applicant, Patent owner：
富士写真フイルム株式会社

About 富士写真フイルム株式会社


Agent (1)： 小林 和憲
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005039501
Publication number (International publication number)：2006226780
Application date： Feb. 16, 2005
Publication date： Aug. 31, 2006
Summary：
【課題】 全反射減衰を利用した測定装置において、連続して測定を行う際の、センサユニットの温度調節による待ち時間の発生を防止する。【解決手段】 測定機6は、ホルダ搬送機構71、ピックアップ機構72、測定ステージ73、ストック部74などからなる。これらの各部は、筐体75に収容される。筐体75のベース板75aと側板75bとには、水が循環するジャケット部80が設けられている。ペルチエ素子76で加熱又は冷却した水を、循環ポンプ77によって各ジャケット部80に循環させることで、筐体75内の雰囲気温度が一定となるように調節される。ストック部74には、三段の棚板92が設けられている。各棚板92に、固定工程が完了した測定待機状態のセンサユニット12をホルダ52ごと載置することにより、各センサユニット12の温度が筐体75内の雰囲気温度に合わせられる。【選択図】 図5
Claim (excerpt)：
光の全反射減衰を利用して試料の反応状況を検知するためのセンサユニットが1つずつセットされ、このセンサユニットに対して全反射条件を満足するように光を照射する光源と、前記センサユニットからの反射光を受光して電気信号に光電変換する検出手段とが配置され、前記試料の反応状況を調べる測定処理が実行される測定ステージと、 前記測定処理が未処理の測定待機状態の少なくとも1つの前記センサユニットを蓄積するストック部と、 このストック部から取り出された前記センサユニットを少なくとも1つ保持してそのセンサユニットを前記測定ステージに供給する供給部と、 これら測定ステージ、ストック部及び供給部を収容する筐体と、 この筐体内の雰囲気温度が一定となるように調節する温度調節手段とを備えたことを特徴とする全反射減衰を利用した測定装置。
IPC (5)：
G01N 21/27 ,  G01N 21/01 ,  G01N 21/05 ,  G01N 21/11 ,  G01N 21/75
FI (5)：
G01N21/27 C ,  G01N21/01 C ,  G01N21/05 ,  G01N21/11 ,  G01N21/75 Z
F-Term (34)：
2G054EA05 ,  2G054FA17 ,  2G054FA18 ,  2G054FA19 ,  2G054FA32 ,  2G057AA02 ,  2G057AB04 ,  2G057AB07 ,  2G057AC01 ,  2G057BA05 ,  2G057BB06 ,  2G057BB08 ,  2G057GA00 ,  2G057GA01 ,  2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059DD13 ,  2G059DD16 ,  2G059EE02 ,  2G059EE05 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG04 ,  2G059GG10 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ12 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ26 ,  2G059KK04 ,  2G059LL04 ,  2G059MM10 ,  2G059NN01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)
  • 特許第3294605号公報
  • 特許第3468091号公報
Cited by examiner (13)
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