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J-GLOBAL ID:201003056449612975
磁気メモリセル及び磁気ランダムアクセスメモリ
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
平木 祐輔
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2008313679
Publication number (International publication number):2010140973
Application date: Dec. 09, 2008
Publication date: Jun. 24, 2010
Summary:
【課題】スピントランスファートルク書き込み方式の不揮発性磁気メモリにおいて書き込み電流を増加させることなく、読み出しによる誤書込みを低減する。【解決手段】強磁性記録層にフェリ磁性体を含むトンネル磁気抵抗効果素子をメモリセルに適用する。読み出し動作時には強磁性記録層のダンピング定数及び異方性磁界を大きくすることで読み出しによる誤書き込みを低減する。書き込み動作時には強磁性記録層のダンピング定数及び磁化を小さくすることで書き込み電流を低減する。【選択図】図2
Claim (excerpt):
絶縁膜と、前記絶縁膜を挟んで設けられた強磁性記録層と強磁性固定層とを有し、
前記強磁性記録層は、非磁性導電層を挟んで設けられた第一の強磁性膜と第二の強磁性膜からなり、
前記第二の強磁性膜はフェリ磁性体であり、
前記フェリ磁性体は、角運動量補償温度が読み出し動作時の温度近傍にあって書き込み動作時には前記角運動量補償温度より高温になり、
前記第一の強磁性膜と前記第二の強磁性膜の磁化は交換結合しており、
前記角運動量補償温度より高い温度において前記第一の強磁性膜と前記第二の強磁性膜の磁化方向が互いに逆方向であることを特徴とするトンネル磁気抵抗効果素子。
IPC (5):
H01L 43/08
, H01L 21/824
, H01L 27/105
, H01L 29/82
, H01F 10/32
FI (5):
H01L43/08 M
, H01L27/10 447
, H01L29/82 Z
, H01L43/08 Z
, H01F10/32
F-Term (36):
4M119AA03
, 4M119AA11
, 4M119BB01
, 4M119CC05
, 4M119CC06
, 4M119DD05
, 4M119DD06
, 4M119DD07
, 4M119DD09
, 4M119DD33
, 4M119DD45
, 4M119EE22
, 4M119EE27
, 5E049BA12
, 5E049CB02
, 5F092AA01
, 5F092AA12
, 5F092AB08
, 5F092AC12
, 5F092AD24
, 5F092AD25
, 5F092BB09
, 5F092BB10
, 5F092BB17
, 5F092BB22
, 5F092BB23
, 5F092BB36
, 5F092BB42
, 5F092BB43
, 5F092BC04
, 5F092BC07
, 5F092BC08
, 5F092BC18
, 5F092BC19
, 5F092BE13
, 5F092BE21
Patent cited by the Patent: