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J-GLOBAL ID:201103062877938610
振動検出システム、該システムを用いた装置及び振動検出方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2010011526
Publication number (International publication number):2011149828
Application date: Jan. 22, 2010
Publication date: Aug. 04, 2011
Summary:
【課題】ファイバ・ブラッグ・グレーティング(FBG)を用いた超音波・AE等の振動検出装置は、材料衝撃時の弾性波検出や超音波探傷に用いられるが、温度変化や歪み変化を受ける環境では、超音波検出が不可能であったり、性能が劣るという問題があり、また小型で軽量の装置が望まれていた。【解決手段】広帯域光源を用いて、FBG反射波長域を包含する広帯域光を前記FBGに入射し、前記FBGからの反射光強度を電気信号に変換し、前記電気信号に対して、前記FBGが受ける振動に基づく応答信号を抽出する信号処理を行うことにより振動を検出することで、光フィルタを用いずに、超音波等の振動を検出する。【選択図】図12
Claim (excerpt):
可聴域から超音波域の振動を検出するシステムであって、
広帯域光源と、
前記広帯域光源からの広帯域光が入射するファイバ・ブラッグ・グレーティング(以下、FBGという。)と、
前記FBGからの反射光強度を電気信号に変換する光電変換部と、
前記電気信号に対して、前記FBGが受ける振動に基づく応答信号を抽出する信号処理を行う信号処理部と、
を備えることを特徴とする振動検出システム。
IPC (4):
G01H 9/00
, G01N 29/14
, G01N 29/24
, H04R 23/00
FI (5):
G01H9/00 E
, G01N29/14
, G01N29/24
, H04R23/00 330
, H04R23/00 320
F-Term (18):
2G047BA05
, 2G047CA04
, 2G047EA05
, 2G047EA08
, 2G047EA10
, 2G047GA21
, 2G047GD00
, 2G047GG17
, 2G064AB01
, 2G064AB02
, 2G064BA02
, 2G064BC12
, 2G064BC31
, 2G064CC02
, 2G064CC35
, 2G064CC43
, 5D019FF05
, 5D021DD04
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (13)
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光ファイバセンサを用いたひずみとAEの計測装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-172321
Applicant:独立行政法人産業技術総合研究所
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OFDR方式の多点歪計測装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-375302
Applicant:独立行政法人航空宇宙技術研究所, 宇宙開発事業団, 有限会社データサイエンス
-
材料健全性評価装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-066290
Applicant:独立行政法人産業技術総合研究所
-
力学センサ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-159611
Applicant:古河電気工業株式会社
-
歪み量測定システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-100487
Applicant:アンリツ株式会社
-
物理量測定システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2007-070630
Applicant:日立電線株式会社
-
ブラッグ格子センサーを利用した光センサーシステム
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平10-504094
Applicant:アメリカ合衆国
-
光ファイバセンサを用いたひずみ計測、および超音波・AE検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-145880
Applicant:独立行政法人産業技術総合研究所
-
AE・超音波検出システム、及びそれを備えた材料監視装置並びに非破壊検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-223176
Applicant:独立行政法人産業技術総合研究所, 石川島検査計測株式会社
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可動式FBG超音波センサ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-318920
Applicant:独立行政法人産業技術総合研究所
-
歪み量測定システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2007-324879
Applicant:アンリツ株式会社
-
光ファイバセンサの検査方法及びその検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-007365
Applicant:三菱電機株式会社
-
タービン部材のエロージョン損傷検出方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2008-226271
Applicant:株式会社東芝
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