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J-GLOBAL ID：201303013355834401

モデル作成支援システム、モデル作成支援方法、モデル作成支援プログラム

Inventor： 渡辺 理 ,  宇山 政志 ,  神田 陽治 ,  織田 充
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： グローバル・アイピー東京特許業務法人
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2008118238
Publication number (International publication number)：2009266158
Patent number：5146084
Application date： Apr. 30, 2008
Publication date： Nov. 12, 2009
Claim (excerpt)：

【請求項1】 共分散構造分析を用いて、分析対象となる現象を表す構造のモデルを作成して前記現象を分析する情報処理装置にアクセス可能なモデル作成支援システムであって、 データを持つ複数の観測変数及びデータを持たない複数の潜在変数の和集合と、前記変数間の接続関係を表す複数のパスと、で表現されたモデルを参照モデルとして蓄積するモデル記録部と、 前記分析対象となる現象を表す前記複数の観測変数及び前記複数の潜在変数の和集合と、前記複数のパスと、で表現された対象モデルを、前記情報処理装置から取得するモデル管理部と、 前記情報処理装置から前記対象モデルの作成支援を依頼されると、前記対象モデルと前記モデル記録部に蓄積された参照モデルとを比較し、前記対象モデルの構成要素の全体構造又は部分構造との類似性の度合いが所定値よりも高い前記参照モデルの、全体構造又は部分構造を、類似構造として抽出する類似構造抽出部を含むモデル抽出部と、を備え、 前記モデル抽出部は、 前記類似構造が抽出された前記対象モデルの前記部分構造に名称未設定の未設定潜在変数がある場合、前記参照モデルにおいて、前記未設定潜在変数に相当する潜在変数を抽出し、前記類似構造の元となった前記参照モデルの構成要素に潜在変数が存在する場合、前記潜在変数を抽出する潜在変数抽出部と、 前記参照モデルの複数の構造から、他の構造と関連するパスが所定数よりも少ない、1又は複数の観測変数及び潜在変数の和集合を含む構造を独立構造として抽出する独立構造抽出部と、 前記独立構造から、前記観測変数及び前記潜在変数の和集合における相互のパス係数の検定統計量が所定値よりも高い構造を安定構造として抽出する安定構造抽出部と、をさらに有し、 前記モデル管理部は、前記類似構造抽出部により抽出された類似構造と、前記抽出された潜在変数とを、前記情報処理装置に通知する、モデル作成支援システム。

IPC (3)：

G06Q 10/00 ( 201 2.01) ,  G06F 17/30 ( 200 6.01) ,  G06Q 10/04 ( 201 2.01)

FI (4)：

G06F 17/60 150 ,  G06F 17/30 220 Z ,  G06F 17/30 350 C ,  G06F 19/00 100

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (6)

• 構造方程式モデリングにおける因果モデル分析装置及び因果モデル分析方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-020899   Applicant：独立行政法人建築研究所, 若林直子, 讃井純一郎, 株式会社インタースコープ, 株式会社リコー
• 因果モデルの同定方法及び制御用知識の学習方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-333478   Applicant：日本鋼管株式会社
• 情報提供・アクション支援システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-240429   Applicant：株式会社スーパースタジオ, 株式会社カルディア
• 因果関係モデル生成方法および因果関係モデル生成装置および因果システムモデル構成装置および原因推定方法および原因推定装置およびプログラムおよび記録媒体
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-099969   Applicant：株式会社東芝
• 因果関係モデル生成方法、因果関係モデル生成装置、原因推定方法、原因推定装置およびデータ構造
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-285544   Applicant：株式会社東芝
• 属性間の部分関係抽出する装置、方法、及びプログラム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2006-237540   Applicant：富士通株式会社

Cited by examiner (6)

• 構造方程式モデリングにおける因果モデル分析装置及び因果モデル分析方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-020899   Applicant：独立行政法人建築研究所, 若林直子, 讃井純一郎, 株式会社インタースコープ, 株式会社リコー
• 因果モデルの同定方法及び制御用知識の学習方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-333478   Applicant：日本鋼管株式会社
• 情報提供・アクション支援システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-240429   Applicant：株式会社スーパースタジオ, 株式会社カルディア
• 因果関係モデル生成方法および因果関係モデル生成装置および因果システムモデル構成装置および原因推定方法および原因推定装置およびプログラムおよび記録媒体
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-099969   Applicant：株式会社東芝
• 因果関係モデル生成方法、因果関係モデル生成装置、原因推定方法、原因推定装置およびデータ構造
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-285544   Applicant：株式会社東芝
• 属性間の部分関係抽出する装置、方法、及びプログラム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2006-237540   Applicant：富士通株式会社