Pat
J-GLOBAL ID:201503003509743013
パーティクルカウンタ
Inventor:
,
,
,
,
Applicant, Patent owner:
,
Agent (2):
志賀 正武
, 高橋 詔男
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2011054222
Publication number (International publication number):2012189492
Patent number:5780584
Application date: Mar. 11, 2011
Publication date: Oct. 04, 2012
Claim (excerpt):
【請求項1】 流動する試料気体を内部通過させる内部流路が形成されたフローセルと、
前記内部流路の内壁面に沿って形成され、該内部流路を通過する前記試料気体の流速を計測する流速計測部と、
前記内部流路を通過する前記試料気体に向けて検出光を照射する光照射部、及び検出光が試料気体中に含まれるパーティクルに当たることで散乱する散乱光を検出する光検出部を具備し、検出した散乱光に基づいてパーティクルを計測するパーティクル計測部と、
前記流速計測部で計測された前記流速に基づいて前記試料気体の流量を算出すると共に、算出した流量と前記パーティクル計測部による計測結果とを関連付ける算出部と、を備え、
前記内部流路には、前記試料気体の流動方向における前記流速計測部の形成範囲内に、前記パーティクル計測部が設けられ、
前記流速計測部は、
前記フローセルの内部に形成され、前記内部流路の上流側及び下流側において該内部流路の前記内壁面にそれぞれ開口した開口部を有する流速計測用通路と、
基端側から先端側に向けて一方向に延びる板状に形成され、基端側が前記フローセルに片持ち状に支持された状態で前記流速計測用通路内に配設されたレバー部と、
該レバー部の変位を測定する変位測定部と、を備え、
前記レバー部は、前記内部流路内における前記上流側と前記下流側との圧力差に応じて撓み変形することを特徴とするパーティクルカウンタ。
IPC (4):
G01N 15/06 ( 200 6.01)
, G01P 5/04 ( 200 6.01)
, G01F 1/36 ( 200 6.01)
, G01P 5/20 ( 200 6.01)
FI (5):
G01N 15/06 D
, G01P 5/04 F
, G01P 5/04 H
, G01F 1/36
, G01P 5/20 E
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (11)
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粒子検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-352133
Applicant:リオン株式会社
-
浮遊粒子分析装置および浮遊粒子分析方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-346162
Applicant:オーム電機株式会社
-
特開平1-301145
-
動粘度計
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-367965
Applicant:鳥越一平
-
PM粒子数計測装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-006223
Applicant:マツダ株式会社
-
浮遊物測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-288118
Applicant:株式会社ハットリ工業
-
流量検出素子及び流量センサ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-093393
Applicant:三菱電機株式会社
-
流速計
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-321999
Applicant:独立行政法人産業技術総合研究所
-
排ガス分析装置および排ガス分析方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-379499
Applicant:トヨタ自動車株式会社, 三菱重工業株式会社
-
流体の流速を測定する上昇力流体流量センサー
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平11-501948
Applicant:ステンメ,エリック, ステンメ,イョーラン, カルベステン,エドバルド, スベディン,ニクラス
-
物理量センサおよび物理量センサの検出方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-106456
Applicant:シャープ株式会社
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Cited by examiner (12)
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粒子検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-352133
Applicant:リオン株式会社
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浮遊粒子分析装置および浮遊粒子分析方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-346162
Applicant:オーム電機株式会社
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特開平1-301145
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特開平1-301145
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Application number:特願平9-367965
Applicant:鳥越一平
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Applicant:三菱電機株式会社
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Application number:特願2005-379499
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流体の流速を測定する上昇力流体流量センサー
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Application number:特願平11-501948
Applicant:ステンメ,エリック, ステンメ,イョーラン, カルベステン,エドバルド, スベディン,ニクラス
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物理量センサおよび物理量センサの検出方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-106456
Applicant:シャープ株式会社
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Article cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (1)
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