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J-GLOBAL ID：200902141337659300   整理番号：98A0166445

電子ビームテスタを利用した組合せ回路の多重縮退故障に対するテスト生成

Test generation for multiple stuck-at faults in combinational circuits using EB-tester.
クリップ
著者 (4件)：
長行康男

長行康男 について

(愛媛大)

愛媛大 について

, 
柳田宣広

柳田宣広 について

(愛媛大)

愛媛大 について

, 
高橋寛

高橋寛 について

(愛媛大)

愛媛大 について

, 
高松雄三

高松雄三 について

(愛媛大)

愛媛大 について


資料名：
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集

電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 について


巻： 1996  ページ： 119  発行年： 1996年 
JST資料番号： L1738A  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)
タイトルに関連する用語 (6件)：
タイトルに関連する用語
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電子ビーム

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テスタ

テスタ について

, 
組合せ回路

組合せ回路 について

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多重

多重 について

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縮退故障

縮退故障 について

, 
テスト生成

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