研究者
J-GLOBAL ID:201401042639579150
更新日: 2022年09月12日
吉村 正義
ヨシムラ マサヨシ | Masayoshi Yoshimura
所属機関・部署:
京都産業大学 コンピュータ理工学部 コンピュータサイエンス学科 コンピュータ理工学部 コンピュータサイエンス学科
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職名:
助教授・准教授
研究分野 (2件):
情報ネットワーク
, 計算機システム
研究キーワード (5件):
安全・安心
, 高信頼化技術
, ディペンダブルコンピューティング
, 設計自動化技術
, LSI
競争的資金等の研究課題 (3件):
2015 - 製造過程でのトロイ回路混入を検知するLSI設計技術に関する研究
2007 - 2013 統合的高信頼化設計のためのモデル化と検出・訂正・回復技術
2013 - 秘密情報の秘匿性と製造検査容易性の両立をはかるLSI設計手法の開発
MISC (10件):
Hiroshi Yamazaki, Motohiro Wakazono, Toshinori Hosokawa, Masayoshi Yoshimura. A Test Compaction Oriented Don’t Care Identification Method Based on X-bit Distribution. IEICE Transaction on Information and Systems. 2013. E96D. 9. 1994-2002
吉村正義. スキャンベース攻撃への対策. 日本信頼性学会誌. 2013. 35. 8. 496
堀洋平, 鈴木大輔, 吉村正義, 吉川雅弥, 藤野毅. セキュリティLSIに対するタンパリングの手法. 日本信頼性学会誌. 2013. 35. 8. 492
安浦寛人, 松永裕介, 吉村正義, 杉原真. 設計自動化技術. 日本信頼性学会誌. 2013. 25. 8. 430
Taiga Takata, Masayoshi Yoshimura, Yusuke Matsunaga. Efficient Fault Simulation Algorithms for Analyzing Soft Error Propagation in Sequential Circuits. IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology. 2013. 6. August issue. 127-134
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講演・口頭発表等 (21件):
スキャンベース攻撃を考慮した暗号LSIのテスト手法
(ディペンダブルコンピューティング研究会 2015)
信号非遷移情報に基づくトロイ回路検出法
(ディペンダブルコンピューティング研究会 2015)
A Multi Cycle Capture Test Generation Method for Low Capture Power Dissipation
(Designing with Uncertainty - Opportunities & Challenges 2015)
A Multi Cycle Capture Test Generation Method for Low Capture Power Dissipation
(Designing with Uncertainty - Opportunities & Challenges 2015)
キャプチャ消費電力削減のためのマルチサイクルキャプチャテスト生成法
(ディペンダブルコンピューティング研究会 2014)
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学歴 (2件):
- 2003 大阪大学 基礎工学研究科 システム人間系専攻
- 1996 大阪大学 基礎工学部 システム工学科
学位 (2件):
修士(工学) (0292)
博士(工学) (0292)
経歴 (4件):
2007 - 2014 九州大学 大学院システム情報科学研究院 助教
2014 - - 京都産業大学 コンピュータ理工学部 准教授
2004 - 2007 福岡県産業・科学技術振興財団 福岡知的クラスター研究所 研究員
1998 - 2004 松下電器産業(株)
委員歴 (3件):
2016 - Registration Chair: 25th Asian Test Symosium (ATS'16)
2012 - Finance chair: IEEE 13th Workshop on RTL and High Level Testing ( WRTLT'12)
2008 - - 電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究会, 専門委員
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