研究者
J-GLOBAL ID:201001018241904119
更新日: 2024年06月12日
大竹 哲史
オオタケ サトシ | Ohtake Satoshi
所属機関・部署:
職名:
教授
ホームページURL (1件):
https://gds.csis.oita-u.ac.jp/
研究分野 (2件):
計算機システム
, 電子デバイス、電子機器
研究キーワード (5件):
VLSI設計技術
, VLSIテスト技術
, VLSI設計自動化(CAD)
, 電子設計自動化(EDA)
, IoT応用
競争的資金等の研究課題 (20件):
- 2023 - 2026 プロセッサの命令レベル自己劣化検知機構とテストプログラム自動生成に関する研究
- 2018 - 2024 IoT時代の再構成可能集積回路に対する高信頼化に関する研究
- 2018 - 2023 フィールド運用中のアダプティブテストに基づくVLSIの予防安全
- 2016 - 2019 機能安全技術のための組込み自己診断法の開発
- 2015 - 2018 集積回路の製造テスト結果を利用した信頼性予測
- 2014 - 2018 FPGA搭載回路のフィールド高信頼化に関する研究
- 2010 - 2014 VLSIの通常動作状況を考慮した高精度遅延テストに関する研究
- 2008 - 2011 フィールド高信頼化のための回路・システム機構
- 2008 - 2010 ネットワークオンチップにおけるテスト容易性と安全性に関する基礎研究
- 2007 - 2008 集積回路の歩留まり向上を指向したテスト技術
- 2006 - 2008 大規模LSIの上流からのフォールスパス判定とテスト不要化合成に関する研究
- 2006 - 2008 構造テストに高故障検出効率を保証するプロセッサの命令レベル自己テスト法
- 2005 - 2007 大規模・高性能VLSIのレジスタ転送レベルにおけるテスト容易化設計に関する研究
- 2003 - 2006 システムオンチップのテストアーキテクチャとテスト容易化設計に関する基礎研究
- 2003 - 2005 プロセッサの命令レベル自己テストとテスト容易化設計に関する研究
- 2002 - 2004 低消費電力性とテスト容易性をともに考慮したVLSI高位設計
- 2000 - 2002 Vコアベーステスト容易化設計技術の研究開発
- 2000 - 2001 大規模・高性能VLSIの遅延故障に対するテスト容易化設計に関する研究
- 1997 - 2000 テスト容易性を考慮した大規模・高性能 VLSI 高位合成およびテスト合成の研究
- 1998 - 1999 テスト容易性を考慮した高位合成に関する研究
全件表示
論文 (73件):
-
Shunsuke Mukai, Satoshi Ohtake. Vibration Measurement Experiment of Rails at Shinkansen Rail Yard in Kumamoto. GCCE. 2023. 318-320
-
Funakoshi Miyabi, Satoshi Ohtake. Hardware Implementation of Constant Monitoring System of Fetal Heart Sounds. ICCE-Taiwan. 2023. 663-664
-
Toshiyuki Haramaki, Satoshi Ohtake. A Method of Controlling Devices Remotely in Online Embedded System Engineer Training. ICCE-Taiwan. 2023. 495-496
-
Shunsuke Mukai, Satoshi Ohtake. Field Monitoring System for Frost Damage Warning and Quality Difference Analysis of Tea Leaves. ICCE-Taiwan. 2023. 139-140
-
Tsuneo Kagawa, Masaya Ikemoto, Satoshi Ohtake. A robust method of IC seating inspection in burn-in sockets using Hough transform. ICCE-TW. 2022. 1-2
もっと見る
MISC (74件):
-
舩越 雅, 大竹 哲史. 胎児心音常時モニタリングシステムのハードウェア実装. 火の国情報シンポジウム2023. 2023. 1-6
-
諸岡, 蓮, 賀川, 経夫, 大竹, 哲史. AR技術を用いた観光者向け地域情報提示ツールの開発. 第84回全国大会講演論文集. 2022. 2022. 1. 201-202
-
岩本岬汰郎, 大竹哲史. SATを用いた遅延故障BIST向けLFSRシード生成法. 電子情報通信学会技術研究報告(Web). 2022. 121. 388(DC2021 64-78)
-
諸岡, 蓮, 賀川, 経夫, 大竹, 哲史. ARランドマークを用いた観光案内支援ツールの開発. 第83回全国大会講演論文集. 2021. 2021. 1. 253-254
-
岡龍之介, 大竹哲史, 熊木光一. 畳み込みニューラルネットワークを活用したLSIテスト不良予測. 電子情報通信学会技術研究報告. 2020. 119. 420(DC2019 86-97)(Web)
もっと見る
特許 (6件):
学歴 (3件):
- 1997 - 1999 奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科 博士後期課程
- 1995 - 1997 奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科 博士前期課程
- 1991 - 1995 電気通信大学 電気通信学部 情報工学科
学位 (1件):
経歴 (11件):
- 2023/10 - 現在 大分大学 学長特命補佐(研究,研究IR,大学院生研究環境支援担当)
- 2019/04 - 現在 大分大学 理工学部 教授
- 2023/04 - 2023/09 大分大学 理工学部 副学部長(研究担当)
- 2022/04 - 2023/03 大分大学 理工学部 共創理工学科 学科長
- 2017/04 - 2019/03 大分大学 理工学部 准教授
- 2011/08 - 2017/03 大分大学 工学部 准教授
- 2007/04 - 2011/07 奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科 助教
- 2007/11 - 2008/03 University of Wisconsin-Madison Department of Electrical and Computer Engineering, College of Engineering Visiting Scholar - Honorary Fellow
- 2001/04 - 2007/03 奈良工業高等専門学校 情報工学科 非常勤講師
- 1999/07 - 2007/03 奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科 助手
- 1998/04 - 1999/06 日本学術振興会 特別研究員 DC
全件表示
委員歴 (11件):
- 2024/04 - 現在 おおいたDX推進ラボ先端技術挑戦協議会委員
- 2022/04 - 現在 大分県LSIクラスター形成推進会議 イノベーション部会 委員
- 2015/04 - 現在 電子情報通信学会情報システムソサイエティ ディペンダブルシステム研究専門委員会 委員
- 2011/01 - 現在 IEEE Workshop on RTL and High Level Testing Steering Committee Member
- 2018/04 - 2022/03 情報処理学会 Transactions on System LSI Design Methodology 編集委員
- 2015/04 - 2022/03 大分県LSIクラスター形成推進会議 グローバルイノベーション部会 委員
- 2020/04 - 2021/11 IEEE Asian Test Symposium 2021 Organizing Committee Chair
- 2013/04 - 2017/03 情報処理学会 論文誌ジャーナル/JIP編集委員
- 2015/04 - 2016/11 IEEE Asian Test Symposium Program Committee Chair
- 2012/04 - 2016/03 情報処理学会 システムとLSIの設計技術研究会 運営委員
- 2012/09 - 2015/03 大分県LSIクラスター形成推進会議 研究開発専門部会 委員
全件表示
受賞 (5件):
- 2008/11 - IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT) 2007 Best Paper Award
- 2006/11 - IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT) 2005 Best Paper Award
- 2006/01 - IEEE International Workshop on Electronic Design, Test & Applications (DELTA) 2006 Best Paper Award
- 2004/11 - IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT) 2003 Best Paper Award
- 2002/09 - 平成13年度電子情報通信学会情報システムソサイエティ論文賞
所属学会 (4件):
IEEE Senior Member
, 情報処理学会 会員
, IEEE Computer Society Member
, 電子情報通信学会 会員
前のページに戻る