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J-GLOBAL ID:200902146354084925   整理番号:02A0191174

H2とN2の混合キャリアガスを用いた,水素化物気相エピタクシーによりエピタキシャル横方向成長したGaNにおける貫通転位の分布

Distribution of Threading Dislocations in Epitaxial Lateral Overgrowth GaN by Hydride Vapor-Phase Epitaxy Using Mixed Carrier Gas of H2 and N2.
著者 (7件):
資料名:
巻: 41  号:ページ: 75-76  発行年: 2002年01月15日 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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エピタキシャル横方向成長(ELO)はGaNエピタキシャル層の...
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分類 (2件):
分類
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半導体薄膜  ,  半導体の格子欠陥 

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