文献

J-GLOBAL ID：200902225021796020   整理番号：07A0140855

Suzaku搭載X線撮像スペクトロメータ(XIS)

X-Ray Imaging Spectrometer (XIS) on Board Suzaku

著者 (40件)： KOYAMA Katsuji (Kyoto Univ., Kyoto) ,  TSUNEMI Hiroshi (Osaka Univ., Osaka) ,  DOTANI Tadayasu (Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa) ,  BAUTZ Mark W. (Massachusetts Inst. Technol., MA, USA) ,  HAYASHIDA Kiyoshi (Osaka Univ., Osaka) ,  TSURU Takeshi Go (Kyoto Univ., Kyoto) ,  MATSUMOTO Hironori (Kyoto Univ., Kyoto) ,  OGAWARA Yoshiaki (Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa) ,  RICKER George R. (Massachusetts Inst. Technol., MA, USA) ,  DOTY John (Noqsi Aerospace Ltd., CO, USA) ,  KISSEL Steven E. (Massachusetts Inst. Technol., MA, USA) ,  FOSTER Rick (Massachusetts Inst. Technol., MA, USA) ,  NAKAJIMA Hiroshi (Kyoto Univ., Kyoto) ,  YAMAGUCHI Hiroya (Kyoto Univ., Kyoto) ,  MORI Hideyuki (Kyoto Univ., Kyoto) ,  SAKANO Masaaki (Kyoto Univ., Kyoto) ,  HAMAGUCHI Kenji (Kyoto Univ., Kyoto) ,  NISHIUCHI Mamiko (Kyoto Univ., Kyoto) ,  MIYATA Emi (Osaka Univ., Osaka) ,  TORII Ken’ichi (Osaka Univ., Osaka) ,  NAMIKI Masaaki (Osaka Univ., Osaka) ,  KATSUDA Satoru (Osaka Univ., Osaka) ,  MATSUURA Daisuke (Osaka Univ., Osaka) ,  MIYAUCHI Tomofumi (Osaka Univ., Osaka) ,  ANABUKI Naohisa (Osaka Univ., Osaka) ,  TAWA Noriaki (Osaka Univ., Osaka) ,  OZAKI Masanobu (Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa) ,  MURAKAMI Hiroshi (Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa) ,  MAEDA Yoshitomo (Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa) ,  ICHIKAWA Yoshinori (Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa) ,  PRIGOZHIN Gregory Y. (Massachusetts Inst. Technol., MA, USA) ,  BOUGHAN Edward A. (Massachusetts Inst. Technol., MA, USA) ,  LAMARR Beverly (Massachusetts Inst. Technol., MA, USA) ,  MILLER Eric D. (Massachusetts Inst. Technol., MA, USA) ,  BURKE Barry E. (Massachusetts Inst. Technol., MA, USA) ,  GREGORY James A. (Massachusetts Inst. Technol., MA, USA) ,  PILLSBURY Allen (Massachusetts Inst. Technol., MA, USA) ,  BAMBA Aya (Inst. Physical and Chemical Res.(RIKEN), Saitama) ,  HIGARA Junko S. (Inst. Physical and Chemical Res.(RIKEN), Saitama) ,  SENDA Atsushi (Inst. Physical and Chemical Res.(RIKEN), Saitama)
資料名： Publications of the Astronomical Society of Japan  (Publications of the Astronomical Society of Japan)
巻： 59  号： SP1  ページ： S23-S33  発行年： 2007年01月31日 
JST資料番号： G0279A  ISSN： 0004-6264  CODEN： PASJA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： XISは,X線検出に最適化した最先端の電荷結合素子(CCD)...

シソーラス用語： *X線スペクトロメータ ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=07A0140855&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=G0279A") }}

分類 (2件)： 宇宙線・天体物理観測技術  (DB01000N) ,  X線技術  (BA02060D)

引用文献 (24件)：

• Bautz, M. W., et al.2000, Proc. SPIE, 4012, 53
• Bautz, M. W., Kissel, S. E., Prigozhin, G. Y., LaMarr, B., Burke, B. E.,& Gregory, J. A.2004, Proc. SPIE, 5501, 111
• Born, M.,& Wolf, E.1999, Principles of Optics, 7th ed.(Cambridge: Cambridge University Press), 67
• Burke, B. E., Mountain, R. W., Harrison, D. C., Bautz, M. W., Doty, J. P., Ricker, G. R.,& Daniels, P. J.1991, IEEE Trans. ED, 38, 1069
• Dotani, T., et al.2003, Proc. SPIE, 4851, 1071

タイトルに関連する用語 (3件)： SUZAKU ,  X線撮像 ,  スペクトロメータ