特許
J-GLOBAL ID:200903005082101141
重合体、レジスト組成物、およびパターン形成方法
発明者:
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出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-211343
公開番号(公開出願番号):特開2004-051785
出願日: 2002年07月19日
公開日(公表日): 2004年02月19日
要約:
【課題】波長250nm以下の光、特にArFエキシマーレーザー光に対して透明性が高く、感度、解像度、基板密着性、ドライエッチング耐性といったレジスト性能に優れ、遠紫外光エキシマーレーザーリソグラフィーや電子線リソグラフィー等に好適なレジスト組成物、および、このレジスト組成物を用いたパターン形成方法を提供することを目的とする。【解決手段】下記式(1)【化1】(式中、m、nはそれぞれ0〜3の整数を示し、R1は水素原子またはメチル基を示し、Z1は単環式飽和炭化水素構造または多環式飽和炭化水素構造を示す。ただし、mとnが同時に0であることはない。)で表される構成単位から選ばれる1種又は2種以上を構成単位として含有することを特徴とする重合体。【選択図】 なし
請求項(抜粋):
下記式(1)
IPC (3件):
C08F20/28
, G03F7/039
, H01L21/027
FI (3件):
C08F20/28
, G03F7/039 601
, H01L21/30 502R
Fターム (27件):
2H025AA01
, 2H025AA02
, 2H025AA14
, 2H025AB16
, 2H025AC04
, 2H025AC06
, 2H025AC08
, 2H025AD03
, 2H025BE00
, 2H025BG00
, 2H025FA03
, 2H025FA12
, 2H025FA17
, 4J100AL03Q
, 4J100AL08P
, 4J100AL08Q
, 4J100AL09Q
, 4J100BA03Q
, 4J100BC04Q
, 4J100BC08Q
, 4J100BC09Q
, 4J100BC28Q
, 4J100BC53P
, 4J100BC53Q
, 4J100CA01
, 4J100CA04
, 4J100JA37
引用特許:
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