特許
J-GLOBAL ID:200903029719778155

(共)重合体、レジスト組成物、およびパターン形成方法

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-276560
公開番号(公開出願番号):特開2004-051995
出願日: 2003年07月18日
公開日(公表日): 2004年02月19日
要約:
【課題】 波長250nm以下の光、特にArFエキシマレーザー光に対して高感度で、ドライエッチング耐性に優れ、遠紫外光エキシマレーザーリソグラフィーや電子線リソグラフィー等に好適なレジスト組成物用樹脂およびレジスト組成物、レジスト組成物に適したこのような樹脂の製造方法、並びに、このレジスト組成物を用いた微細なパターン形成方法を提供すること。【解決手段】 下記式(1)〜(3)【化1】(式中、a〜fはそれぞれ0〜2の整数を示し、R1〜R3は水素原子またはメチル基を示し、Z1〜Z3は炭素数10〜22の多環式炭化水素構造を示す。)で表される構成単位から選ばれる1種又は2種以上を含む(共)重合体。【選択図】 なし
請求項(抜粋):
下記式(1)〜(3)
IPC (3件):
C08F20/28 ,  G03F7/039 ,  H01L21/027
FI (3件):
C08F20/28 ,  G03F7/039 601 ,  H01L21/30 502R
Fターム (26件):
2H025AA02 ,  2H025AA09 ,  2H025AB16 ,  2H025AC04 ,  2H025AC06 ,  2H025AC08 ,  2H025AD03 ,  2H025BE00 ,  2H025BE10 ,  2H025BG00 ,  2H025CB14 ,  2H025CB41 ,  2H025FA12 ,  4J100AL08P ,  4J100AL09P ,  4J100BA11P ,  4J100BC03P ,  4J100BC07P ,  4J100BC09P ,  4J100BC12P ,  4J100BC15P ,  4J100BC53P ,  4J100BC55P ,  4J100DA01 ,  4J100DA36 ,  4J100JA38
引用特許:
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (4件)
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