特許
J-GLOBAL ID:200903007630454883
半導体製造装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
吉田 茂明
, 吉竹 英俊
, 有田 貴弘
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-354548
公開番号(公開出願番号):特開2005-123284
出願日: 2003年10月15日
公開日(公表日): 2005年05月12日
要約:
【課題】急速にウエハを昇降温することが可能な熱処理装置を提供する。【解決手段】ウエハ116と平行な上面を有する下部ヒータ101を処理室110に水平に固定する。その上方にウエハ116と平行な下面を有する上部ヒータ102を対向配置する。そして、上部ヒータ102と下部ヒータ101との間でウエハ116を保持するウエハリフト部106を設ける。また、ウエハリフト部106を上下に駆動させる第1の駆動機構107と、上部ヒータ102を上下に駆動させる第2の駆動機構109を設ける。予め加熱した上部ヒータ102及び下部ヒータ101でウエハ116をほぼ同時に接触加熱することで急速に昇温することができる。そして、熱処理後は直ちにウエハ116を上部ヒータ102及び下部ヒータ101から離すことができるので、急速に降温することができる。【選択図】図1
請求項(抜粋):
ウエハと平行な上面を有する下部ヒータと、
前記下部ヒータの上方に対向配置され、前記ウエハと平行な下面を有する上部ヒータと、
前記上部ヒータと前記下部ヒータとの間で前記ウエハを保持する保持機構と、
前記保持機構を上下に駆動させる第1の駆動機構と、
前記上部ヒータと前記下部ヒータの少なくとも一方を上下に駆動させる第2の駆動機構と、
を備える半導体製造装置。
IPC (4件):
H01L21/205
, C23C16/46
, H01L21/31
, H01L21/324
FI (5件):
H01L21/205
, C23C16/46
, H01L21/31 A
, H01L21/324 K
, H01L21/324 Q
Fターム (27件):
4K030AA04
, 4K030AA06
, 4K030BA20
, 4K030BA29
, 4K030CA04
, 4K030CA12
, 4K030EA03
, 4K030FA10
, 4K030GA02
, 4K030JA09
, 4K030KA08
, 4K030KA24
, 4K030KA26
, 4K030KA46
, 5F045AA03
, 5F045AA20
, 5F045AB03
, 5F045AB32
, 5F045AC01
, 5F045AC11
, 5F045AF03
, 5F045BB09
, 5F045DP05
, 5F045DQ10
, 5F045EK12
, 5F045EK13
, 5F045EM10
引用特許:
出願人引用 (3件)
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薄膜形成装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-226374
出願人:日本電信電話株式会社
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薄膜形成装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-319284
出願人:日本電信電話株式会社, 大日本スクリーン製造株式会社
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薄膜形成装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-319269
出願人:日本電信電話株式会社, 大日本スクリーン製造株式会社
審査官引用 (7件)
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基板熱処理装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-340273
出願人:大日本スクリーン製造株式会社
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薄膜太陽電池の製造装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-239867
出願人:矢崎総業株式会社
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基板を冷却するための方法及び装置
公報種別:公表公報
出願番号:特願2000-570821
出願人:エーエスエムアメリカインコーポレイテッド
-
基板加熱冷却を改良した真空処理装置
公報種別:公表公報
出願番号:特願2000-516077
出願人:エーケーティー株式会社, ターナー,ノーマン,エル., ホワイト,ジョン,エム., ダントレモン,アラン
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半導体製造装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-008207
出願人:国際電気株式会社
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基板処理装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-354525
出願人:国際電気株式会社
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プラズマ処理装置及びその方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-328147
出願人:セイコーエプソン株式会社
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