特許
J-GLOBAL ID:200903007630454883

半導体製造装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 吉田 茂明 ,  吉竹 英俊 ,  有田 貴弘
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-354548
公開番号(公開出願番号):特開2005-123284
出願日: 2003年10月15日
公開日(公表日): 2005年05月12日
要約:
【課題】急速にウエハを昇降温することが可能な熱処理装置を提供する。【解決手段】ウエハ116と平行な上面を有する下部ヒータ101を処理室110に水平に固定する。その上方にウエハ116と平行な下面を有する上部ヒータ102を対向配置する。そして、上部ヒータ102と下部ヒータ101との間でウエハ116を保持するウエハリフト部106を設ける。また、ウエハリフト部106を上下に駆動させる第1の駆動機構107と、上部ヒータ102を上下に駆動させる第2の駆動機構109を設ける。予め加熱した上部ヒータ102及び下部ヒータ101でウエハ116をほぼ同時に接触加熱することで急速に昇温することができる。そして、熱処理後は直ちにウエハ116を上部ヒータ102及び下部ヒータ101から離すことができるので、急速に降温することができる。【選択図】図1
請求項(抜粋):
ウエハと平行な上面を有する下部ヒータと、 前記下部ヒータの上方に対向配置され、前記ウエハと平行な下面を有する上部ヒータと、 前記上部ヒータと前記下部ヒータとの間で前記ウエハを保持する保持機構と、 前記保持機構を上下に駆動させる第1の駆動機構と、 前記上部ヒータと前記下部ヒータの少なくとも一方を上下に駆動させる第2の駆動機構と、 を備える半導体製造装置。
IPC (4件):
H01L21/205 ,  C23C16/46 ,  H01L21/31 ,  H01L21/324
FI (5件):
H01L21/205 ,  C23C16/46 ,  H01L21/31 A ,  H01L21/324 K ,  H01L21/324 Q
Fターム (27件):
4K030AA04 ,  4K030AA06 ,  4K030BA20 ,  4K030BA29 ,  4K030CA04 ,  4K030CA12 ,  4K030EA03 ,  4K030FA10 ,  4K030GA02 ,  4K030JA09 ,  4K030KA08 ,  4K030KA24 ,  4K030KA26 ,  4K030KA46 ,  5F045AA03 ,  5F045AA20 ,  5F045AB03 ,  5F045AB32 ,  5F045AC01 ,  5F045AC11 ,  5F045AF03 ,  5F045BB09 ,  5F045DP05 ,  5F045DQ10 ,  5F045EK12 ,  5F045EK13 ,  5F045EM10
引用特許:
出願人引用 (3件)
  • 薄膜形成装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平9-226374   出願人:日本電信電話株式会社
  • 薄膜形成装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平11-319284   出願人:日本電信電話株式会社, 大日本スクリーン製造株式会社
  • 薄膜形成装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平11-319269   出願人:日本電信電話株式会社, 大日本スクリーン製造株式会社
審査官引用 (7件)
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