特許
J-GLOBAL ID:200903008105983910

窒化ガリウム系化合物半導体レーザ素子の製造方法及び窒化ガリウム系化合物半導体レーザ素子

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): ▲角▼谷 浩
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-017103
公開番号(公開出願番号):特開2006-310766
出願日: 2006年01月26日
公開日(公表日): 2006年11月09日
要約:
【課題】 オフ角度の大きな窒化ガリウム基板を使用しても、スロープ効率が大きく、素子抵抗が減少し、駆動電圧を低減でき、しかも、製造歩留まりが高く、バラツキが少なく、高出力の青紫色の光を発することができる窒化ガリウム系化合物半導体レーザ素子の製造方法及びこの製造方法で作製された化合物半導体レーザ素子を提供すること。【解決手段】 本発明の窒化ガリウム系化合物半導体レーザ素子の製造方法は、窒化ガリウム基板の結晶成長面として(0001)Ga面の<1-100>方向に絶対値で0.16度以上5.0度以下傾斜した面、又は、(0001)Ga面の<1-100>方向へのオフ角度をAとし、(0001)Ga面の<11-20>方向へのオフ角度をBとした場合の(A2+B2)の平方根が0.17以上7.0以下である面を用い、かつ活性層を0.5Å/秒以上5.0Å/秒以下の成長速度で成長させることを特徴とする。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
窒化ガリウム基板上に、窒化ガリウム系化合物半導体レーザ素子を作製する方法であって、前記窒化ガリウム基板の結晶成長面として(0001)Ga面の<1-100>方向に絶対値で0.16度以上5.0度以下傾斜した面を用い、かつ活性層を0.5Å/秒以上5.0Å/秒以下の成長速度で成長させることを特徴とする窒化ガリウム系化合物半導体レーザ素子の製造方法。
IPC (2件):
H01S 5/343 ,  H01L 21/205
FI (2件):
H01S5/343 610 ,  H01L21/205
Fターム (11件):
5F045AA04 ,  5F045AB14 ,  5F045AC07 ,  5F045AF04 ,  5F045CA11 ,  5F173AA05 ,  5F173AA47 ,  5F173AH22 ,  5F173AK08 ,  5F173AL04 ,  5F173AP06
引用特許:
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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