特許
J-GLOBAL ID：200903014607994494

知識作成支援装置および表示方法

発明者：
堀 正樹

堀 正樹 について


出願人/特許権者：
オムロン株式会社

オムロン株式会社 について


代理人 (1件)： 松井 伸一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-143321
公開番号（公開出願番号）：特開2006-003345
出願日： 2005年05月16日
公開日（公表日）： 2006年01月05日
要約：
【課題】 ユーザが検査装置に最適な特徴量およびまたはパラメータの決定を効率良く行なうことができる知識作成支援装置を提供すること【解決手段】 検査対象から取得した波形データに対し、設定された特徴量とパラメータの所定の組み合わせについて特徴量を演算して求められた演算結果を取得する。ついで、その取得した演算結果に基づき、設定された特徴量およびパラメータで縦軸、横軸をとったグラフを表示装置に表示する。グラフ上の各領域は、縦軸,横軸の組合せ毎に演算結果に対応した濃度で示される。濃度で示すことで、ユーザはより濃度の濃い領域を簡単に見つけることができ、その領域に対応する特徴量、パラメータの組み合わせを見ることにより、検査対象から取得した波形データにとって最適な特徴量およびパラメータの組み合わせなどの条件を容易に見つけることができる。【選択図】 図9
請求項（抜粋）：
検査対象から取得した波形データに対し、その波形データの特徴を表す特徴量を演算して得られた特徴量演算結果に基づいて、前記検査対象が正常か異常かの判断を行なう検査装置に設定する、前記判断に有効な特徴量およびその特徴量を演算するためのパラメータのうち少なくとも一方を求めるのを支援する支援装置であって、 ひとつ以上の特徴量およびひとつ以上のパラメータを設定する設定手段と、 与えられた波形データに対し、前記設定手段により設定された特徴量とパラメータの所定の組み合わせについて特徴量を演算する特徴量演算手段と、 前記特徴量演算手段で得られた前記所定の組み合わせについてのそれぞれの演算結果に基づき、前記設定された特徴量およびまたは前記設定されたパラメータで2つ以上の軸を構成したグラフを表示する演算結果表示手段と、 を備えたことを特徴とする支援装置。
IPC (2件)：
G01M 19/00 ,  G01H 17/00
FI (2件)：
G01M19/00 A ,  G01H17/00 Z
Fターム (26件)：
2G024BA15 ,  2G024BA22 ,  2G024BA27 ,  2G024CA13 ,  2G024CA27 ,  2G024CA30 ,  2G024DA09 ,  2G024FA01 ,  2G024FA06 ,  2G024FA11 ,  2G064AA12 ,  2G064AA14 ,  2G064AB01 ,  2G064AB02 ,  2G064AB13 ,  2G064AB22 ,  2G064BA02 ,  2G064CC02 ,  2G064CC03 ,  2G064CC26 ,  2G064CC29 ,  2G064CC30 ,  2G064CC41 ,  2G064CC45 ,  2G064CC54 ,  2G064DD09
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (12件)
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