特許
J-GLOBAL ID:200903014767280919

電子線露光用マスクブランクおよびマスク

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 池田 憲保 ,  福田 修一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-155842
公開番号(公開出願番号):特開2005-340835
出願日: 2005年05月27日
公開日(公表日): 2005年12月08日
要約:
【課題】 応力の経時変化が小さい、薄い膜厚のパターン支持層を得る。【解決手段】 電子線を透過するパターン支持層(6)と、前記パターン支持層上に形成された電子線散乱層(5)と、前記パターン支持層と前記電子線散乱層とを支持する支持体(3)とを有する電子線露光用マスクおよびマスクブランクにおいて、前記パターン支持層が、炭素と珪素の結合から主として構成される非晶質構造の材料からなり、表面粗さが0.2(nm、Rms)以下となるように成膜された引張り応力膜である。【選択図】 図10A
請求項(抜粋):
電子線を透過するパターン支持層と、前記パターン支持層上に形成された電子線散乱層と、前記パターン支持層と前記電子線散乱層とを支持する支持体とを有する電子線露光用マスクブランクにおいて、 前記パターン支持層が、炭素と珪素の結合から主として構成される非晶質構造の材料からなり、表面粗さが0.2(nm、Rms)以下となるように成膜された引張り応力膜であることを特徴とする電子線露光用マスクブランク。
IPC (3件):
H01L21/027 ,  G03F1/14 ,  G03F1/16
FI (3件):
H01L21/30 541S ,  G03F1/14 B ,  G03F1/16 B
Fターム (4件):
2H095BA08 ,  2H095BC27 ,  5F056AA22 ,  5F056FA05
引用特許:
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (9件)
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