特許
J-GLOBAL ID：200903033505898436
はんだ接続部評価システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人湘洋内外特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-136458
公開番号（公開出願番号）：特開2006-313127
出願日： 2005年05月09日
公開日（公表日）： 2006年11月16日
要約：
【課題】 はんだ接続部の寿命をより迅速に予測可能とする。【解決手段】 本システムは、データ記憶部11、入力制御部12、はんだ接続評価部13を有する。データ記憶部11内の設計ルールデータベース11には、温度変化による繰り返し負荷が与えられた場合における、はんだ接続部の寿命に関連する因子の値と当該はんだ接続部の寿命との関係を表す数式があらかじめ格納されている。このシステムにおいて、入力制御部12は、入力装置3を介して入力された、電子部品と配線基板との間、2つの電子部品の間、及び、2枚の基板の間のいずれかを接続する検討対象はんだ接続部の寿命に関連する因子の値を受け付ける。その後、はんだ接続評価部13は、上記数式と、ユーザが入力した因子の値とに基づき、電子部品と配線基板との間、2つの電子部品の間、及び、2枚の基板の間のいずれかを接続する検討対象はんだ接続部の寿命を予測する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
電子部品と配線基板との間、2つの電子部品の間、及び、2枚の基板の間のいずれかが評価対象はんだ接続部で接続された構造体の前記評価対象はんだ接続部の寿命を予測するはんだ接続部評価システムであって、
温度変化による繰り返し負荷が与えられた場合における、はんだ接続部の寿命に関連する因子の値と当該はんだ接続部の寿命との関係を表すデータが格納された記憶手段と、
前記検討対象はんだ接続部について、前記因子の値の入力を受け付ける入力手段と、
前記記憶手段に格納された前記データと、前記入力手段が受け付けた因子の値とに基づき、前記検討対象はんだ接続部の予測寿命を算出するはんだ接続評価手段と、
を備えることを特徴とするはんだ接続部評価システム。
IPC (4件)：
G01N 19/04
, G01N 3/00
, G01N 3/32
, H05K 3/34
G01N19/04 A
, G01N3/00 Q
, G01N3/32 E
, H05K3/34 512Z
2G061AC09
, 2G061BA03
, 2G061BA15
, 2G061CB16
, 2G061CB18
, 2G061DA11
, 2G061DA12
, 2G061EA04
, 2G061EA07
, 5E319BB02
, 5E319CC22
, 5E319CD25
, 5E319CD51
, 5E319GG20
出願人引用 (1件)
審査官引用 (11件)
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引用文献：
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