特許
J-GLOBAL ID:200903046914863533

ホトレジスト組成物用樹脂、ホトレジスト組成物、およびレジストパターン形成方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件): 棚井 澄雄 ,  志賀 正武 ,  青山 正和 ,  鈴木 三義 ,  柳井 則子
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-057449
公開番号(公開出願番号):特開2005-206775
出願日: 2004年03月02日
公開日(公表日): 2005年08月04日
要約:
【課題】 解像性、ラインエッジラフネス特性が良好なホトレジスト組成物用樹脂、およびこれを用いたホトレジスト組成物およびレジストパターン形成方法を提供する。【解決手段】 ポリマー末端に炭素原子に結合した水酸基を有し、当該水酸基のα位の炭素原子が、少なくともひとつの電子吸引性基を有することを特徴とするホトレジスト組成物用樹脂。【選択図】 なし
請求項(抜粋):
ポリマー末端に炭素原子に結合した水酸基を有し、当該水酸基のα位の炭素原子が、少なくともひとつの電子吸引性基を有することを特徴とするホトレジスト組成物用樹脂。
IPC (5件):
C08F220/28 ,  C08F2/38 ,  G03F7/033 ,  G03F7/039 ,  H01L21/027
FI (5件):
C08F220/28 ,  C08F2/38 ,  G03F7/033 ,  G03F7/039 601 ,  H01L21/30 502R
Fターム (29件):
2H025AA02 ,  2H025AA03 ,  2H025AB16 ,  2H025AC08 ,  2H025AD03 ,  2H025BE00 ,  2H025BG00 ,  2H025FA03 ,  2H025FA12 ,  2H025FA17 ,  4J011NA25 ,  4J011NB05 ,  4J100AL08P ,  4J100AL08Q ,  4J100AL08R ,  4J100BA03R ,  4J100BA11P ,  4J100BA20P ,  4J100BC08P ,  4J100BC09Q ,  4J100BC09R ,  4J100BC53P ,  4J100CA04 ,  4J100CA05 ,  4J100CA27 ,  4J100DA01 ,  4J100DA36 ,  4J100FA04 ,  4J100JA38
引用特許:
出願人引用 (9件)
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審査官引用 (1件)

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