特許
J-GLOBAL ID:200903049640093883

粒子ビーム装置および粒子ビーム装置で使用するための方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (12件): 鈴江 武彦 ,  蔵田 昌俊 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  峰 隆司 ,  福原 淑弘 ,  白根 俊郎 ,  村松 貞男 ,  野河 信久 ,  砂川 克 ,  橋本 良郎 ,  風間 鉄也
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-147292
公開番号(公開出願番号):特開2008-305794
出願日: 2008年06月04日
公開日(公表日): 2008年12月18日
要約:
【課題】粒子ビーム装置と、この粒子ビーム装置に適用可能であり、試料を前処理するためのおよび/または試料を検査するための方法とを提供すること。【解決手段】この課題は、夫々1つの試料を受け取るための2つの受け取り部材(6,7)を具備し、受け取り部材が支持部材(5)に着脱自在に設けられていてなる粒子ビーム装置(1)によって解決される。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
光軸(8,8 ́,10)を有する少なくとも1つの粒子ビームコラム(3,4)と、 互いに直交した3つの空間方向(x,y,z)に可動に形成されており、前記光軸(8 ́)に平行に設けられているかこの光軸(8)に対応する第1の軸(8 ́)を中心としておよび前記光軸に直交した第2の軸(x)を中心として回転可能である少なくとも1つの支持部材(5)と、 第1の試料を受け取るための少なくとも1つの第1の受け取り部材(6)および第2の試料を受け取るための少なくとも1つの第2の受け取り部材(7)と、を具備し、 前記第1の受け取り部材(6)および前記第2の受け取り部材(7)は、前記支持部材(5)に設けられており、この支持部材(5)の動きは、常に、同一の空間方向(x,y,z)へのおよび/または同一の軸(8,8 ́,x)を中心とした、前記第1の受け取り部材(6)および前記第2の受け取り部材(7)の動きを規定し、 前記支持部材(5)は、少なくとも1つの第1の位置へおよび少なくとも1つの第2の位置へ可動であり、前記第1の位置で、前記第1の受け取り部材(6)にある第1の試料は、粒子ビームによって照射可能であり、前記第2の位置で、前記第2の受け取り部材(7)にある第2の試料は、粒子ビームによって照射可能であってなる粒子ビーム装置(1)。
IPC (1件):
H01J 37/20
FI (1件):
H01J37/20 A
Fターム (5件):
5C001AA01 ,  5C001AA05 ,  5C001CC04 ,  5C001CC07 ,  5C001CC08
引用特許:
出願人引用 (3件)
  • DE 103 51 276 A1
  • US 6,963,068
  • EP 0 927 880 A1
審査官引用 (9件)
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