特許
J-GLOBAL ID:200903050903252971

ITO焼結体の製造法

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-133836
公開番号(公開出願番号):特開2007-254282
出願日: 2007年05月21日
公開日(公表日): 2007年10月04日
要約:
【課題】フラットパネルディスプレイの透明電極等に用いられるITO薄膜のスパッタリングにおいて、膜中欠陥の発生原因となるターゲット表面のノジュールが発生しない高密度ITOスパッタリングターゲットの製造法を提供する。【解決手段】90%以上が1μm以下の粒径を持つ酸化スズ粉末を5〜15wt%含む酸化インジウム・酸化スズ混合粉末の成形体を酸素雰囲気中で焼結することにより、酸化インジウム・酸化スズ(ITO)焼結体を製造する。【選択図】 なし
請求項(抜粋):
90%以上が1μm以下の粒径を持つ酸化スズ粉末を5〜15wt%含む酸化インジウム・酸化スズ混合粉末の成形体を酸素雰囲気中で焼結することを特徴とする酸化インジウム・酸化スズ(ITO)焼結体の製造法。
IPC (3件):
C04B 35/00 ,  C23C 14/34 ,  H01B 13/00
FI (3件):
C04B35/00 J ,  C23C14/34 A ,  H01B13/00 501Z
Fターム (17件):
4G030AA34 ,  4G030AA39 ,  4G030BA02 ,  4G030BA15 ,  4G030GA01 ,  4G030GA03 ,  4G030GA04 ,  4G030GA11 ,  4G030GA22 ,  4G030GA25 ,  4G030GA27 ,  4K029BA50 ,  4K029BC09 ,  4K029CA06 ,  4K029DC05 ,  4K029DC09 ,  4K029DC34
引用特許:
審査官引用 (10件)
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