特許
J-GLOBAL ID：200903055144909903
センサ姿勢及び位置のバイアス誤差推定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高田 守 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-129549
公開番号（公開出願番号）：特開平10-319108
出願日： 1997年05月20日
公開日（公表日）： 1998年12月04日
要約：
【要約】【課題】 第1,第2のセンサの位置の計測値にバイアス誤差が含まれる場合にも、第1,第2のセンサの位置のバイアス誤差及び姿勢のバイアス誤差を同時に精度よく求めるセンサ姿勢及び位置のバイアス誤差推定装置を得ること。【解決手段】 観測行列生成器9と、センサ姿勢及び位置のバイアス誤差推定算出器11を設け、2つのセンサ1,2の姿勢及び位置のバイアス誤差を状態変数とした線形状態方程式の観測行列を算出し、センサの姿勢及び位置のバイアス誤差を推定しているので各センサの姿勢及び位置のバイアス誤差を同時に精度よく求めることができる。
請求項（抜粋）：
互いに離れた位置にある2つのセンサから観測器を介してk個の目標の位置を観測し各センサを原点とする直交座標に変換した出力と、上記2つのセンサの位置を基準直交座標にて計測したセンサ位置計測器の出力とを加算して、上記基準直交座標にて上記目標の観測位置を求めて一方の入力とし、上記センサ自体に起因しその観測諸元である目標の距離,仰角,方位角各々に含まれるバイアス誤差をセンサ姿勢のバイアス誤差と定義し、上記センサ位置の計測値に含まれるバイアス誤差をセンサ位置のバイアス誤差と定義し、それらセンサ姿勢及び位置のバイアス誤差の初期値を設定するセンサ姿勢及び位置の初期バイアス誤差設定器の出力を他方の入力として、それらセンサ姿勢及び位置のバイアス誤差を状態変数とした線形状態方程式の観測行列を算出する観測行列生成手段と、上記観測行列からセンサ姿勢及び位置のバイアス誤差推定値の仮の値を算出するセンサ姿勢及び位置のバイアス誤差推定値算出手段と、上記センサ姿勢及び位置のバイアス誤差の初期値から上記センサ姿勢及び位置のバイアス誤差推定値の仮の値を差し引いてセンサ姿勢及び位置のバイアス誤差推定値を出力する手段と、を備えたことを特徴とするセンサ姿勢及び位置のバイアス誤差推定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01S 3/782 Z
, G01S 7/40 Z
出願人引用 (10件)
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特許第3302870号
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特許第3218181号
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目標位置観測装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平8-092713
出願人：三菱電機株式会社
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