特許
J-GLOBAL ID:200903057888280224
走査型近接場光学顕微鏡
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
篠原 泰司
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-101841
公開番号(公開出願番号):特開平10-293133
出願日: 1997年04月18日
公開日(公表日): 1998年11月04日
要約:
【要約】【課題】複数のプローブを、切換機構によって、走査可能状態に択一的に切り換えることを可能にし走査型近接場光学顕微鏡を提供すること。【解決手段】プローブ5の先端は、試料1に所定の間隔を空けて配置され、試料ステージ2が走査用スキャナ4によって動かされることにより、試料1の走査が可能になっている。光源3から照射され、試料1を透過した光は、試料1の表面近傍でプローブ5に取り込まれ、集光光学系6,ピンホール7を介して光検出器8で検出され、コンピュータ10で信号処理された後、走査型近接場光学顕微鏡像としてモニタ11に画像化されるようになっている。切換機構15のスライド部材15bには、複数のプローブ5が、夫々のアタッチメント16を介して取り付けられ、スライド部材15bがコントローラ9を介して動かされると、所定のプローブ5が走査可能状態に切り換えられるようになっている。
請求項(抜粋):
プローブと試料とを近接して配置し、それらを試料の表面に対して略平行な方向に相対的に移動させることによって試料の表面の近傍を走査し、該プローブを介して得た光を検出器で検出することによって試料の光学特性を測定するようにした走査型近接場光学顕微鏡において、複数のプローブを同時にセットすることのできる切換機構が備えられていて、該切換機構は、それらのプローブを、走査可能状態に、択一的に切り換えて配置させることが可能であるようにしたことを特徴とする走査型近接場光学顕微鏡。
IPC (2件):
FI (3件):
G01N 37/00 D
, G01N 37/00 E
, G01B 11/30 Z
引用特許:
審査官引用 (9件)
-
プローブ顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-018225
出願人:日立建機株式会社
-
光記録装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-241438
出願人:セイコー電子工業株式会社
-
走査プローブ顕微鏡のマルチプローブヘッド
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-347984
出願人:松下電器産業株式会社
全件表示
前のページに戻る