特許
J-GLOBAL ID:200903080646093740

DLC膜及びDLCコート金型

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 的場 基憲
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-146539
公開番号(公開出願番号):特開2008-297171
出願日: 2007年06月01日
公開日(公表日): 2008年12月11日
要約:
【課題】高温耐久性を始めとする保護膜として要求される種々の特性、特に耐熱性や耐融着性、表面平滑性に優れたDLC膜と、このようなDLC膜を備えたDLCコート金型を提供すること。【解決手段】DLC膜をta-C、つまり、sp3/(sp2+sp3)構造比が0.5〜0.9、水素含有量が0〜5原子%、ナノインデンテーション硬さが40〜100GPa、密度が2.7〜3.4g/cm3であるDLCから成るものとし、基材上に成膜された表面に対する針先端曲率半径2μmの触針式表面形状測定器による測定送り0.01mmの表面走査検出において、基材の成膜前における被成膜面の算術平均粗さRa(S)に対するDLC膜面の算術平均粗さRa(D)の絶対値変化量ΔRa(=|Ra(S)-Ra(D)|)が0.75nm以下、且つ当該DLC膜面における高さ又は深さが20nm以上の凹凸の数が単位走査距離及び単位膜厚あたり0.01個/単位走査距離(mm)/単位膜厚(nm)以下のものとする。【選択図】なし
請求項(抜粋):
基材上に成膜されたDLC膜であって、ta-Cに分類されるDLCから成り、sp3/(sp2+sp3)構造比が0.5〜0.9、水素含有量が0〜5原子%、ナノインデンテーション硬さが40〜100GPa、密度が2.7〜3.4g/cm3であって、針先端曲率半径2μmの触針式表面形状測定器による測定送り0.01mmの表面走査検出において、上記基材の成膜前における被成膜面の算術平均粗さRa(S)に対するDLC膜面の算術平均粗さRa(D)の絶対値変化量ΔRa(=|Ra(S)-Ra(D)|)が0.75nm以下であると共に、当該DLC膜面における高さ又は深さが20nm以上の凹凸の数が単位走査距離及び単位膜厚あたり0.01個/単位走査距離(mm)/単位膜厚(nm)以下であることを特徴とするDLC膜。
IPC (5件):
C01B 31/02 ,  C03B 11/08 ,  C23C 14/06 ,  B29C 33/38 ,  B21D 37/01
FI (5件):
C01B31/02 101Z ,  C03B11/08 ,  C23C14/06 F ,  B29C33/38 ,  B21D37/01
Fターム (61件):
4E050JB09 ,  4E050JB10 ,  4E050JD03 ,  4E050JD04 ,  4E050JD05 ,  4E050JD06 ,  4F202AH74 ,  4F202AJ01 ,  4F202AJ02 ,  4F202AJ06 ,  4F202AJ09 ,  4F202AJ11 ,  4F202AJ14 ,  4F202AR12 ,  4F202AR13 ,  4F202CA09 ,  4F202CA11 ,  4F202CA15 ,  4F202CA17 ,  4F202CA27 ,  4F202CA30 ,  4F202CB01 ,  4F202CD22 ,  4G146AA05 ,  4G146AB07 ,  4G146AC01A ,  4G146AC01B ,  4G146AC15A ,  4G146AC15B ,  4G146AC16A ,  4G146AC16B ,  4G146AC22A ,  4G146AC22B ,  4G146AC23A ,  4G146AC23B ,  4G146AC25A ,  4G146AC25B ,  4G146AC30A ,  4G146AC30B ,  4G146AD19 ,  4G146AD26 ,  4G146AD36 ,  4G146AD37 ,  4G146BA12 ,  4G146BA48 ,  4G146BB23 ,  4G146BC17 ,  4G146BC18 ,  4G146BC27 ,  4G146DA03 ,  4G146DA17 ,  4G146DA30 ,  4G146DA46 ,  4G146DA47 ,  4K029AA02 ,  4K029BA34 ,  4K029CA01 ,  4K029CA02 ,  4K029CA13 ,  4K029DB02 ,  4K029DD06
引用特許:
出願人引用 (3件) 審査官引用 (7件)
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引用文献:
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