特許
J-GLOBAL ID:200903080646093740
DLC膜及びDLCコート金型
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
的場 基憲
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-146539
公開番号(公開出願番号):特開2008-297171
出願日: 2007年06月01日
公開日(公表日): 2008年12月11日
要約:
【課題】高温耐久性を始めとする保護膜として要求される種々の特性、特に耐熱性や耐融着性、表面平滑性に優れたDLC膜と、このようなDLC膜を備えたDLCコート金型を提供すること。【解決手段】DLC膜をta-C、つまり、sp3/(sp2+sp3)構造比が0.5〜0.9、水素含有量が0〜5原子%、ナノインデンテーション硬さが40〜100GPa、密度が2.7〜3.4g/cm3であるDLCから成るものとし、基材上に成膜された表面に対する針先端曲率半径2μmの触針式表面形状測定器による測定送り0.01mmの表面走査検出において、基材の成膜前における被成膜面の算術平均粗さRa(S)に対するDLC膜面の算術平均粗さRa(D)の絶対値変化量ΔRa(=|Ra(S)-Ra(D)|)が0.75nm以下、且つ当該DLC膜面における高さ又は深さが20nm以上の凹凸の数が単位走査距離及び単位膜厚あたり0.01個/単位走査距離(mm)/単位膜厚(nm)以下のものとする。【選択図】なし
請求項(抜粋):
基材上に成膜されたDLC膜であって、ta-Cに分類されるDLCから成り、sp3/(sp2+sp3)構造比が0.5〜0.9、水素含有量が0〜5原子%、ナノインデンテーション硬さが40〜100GPa、密度が2.7〜3.4g/cm3であって、針先端曲率半径2μmの触針式表面形状測定器による測定送り0.01mmの表面走査検出において、上記基材の成膜前における被成膜面の算術平均粗さRa(S)に対するDLC膜面の算術平均粗さRa(D)の絶対値変化量ΔRa(=|Ra(S)-Ra(D)|)が0.75nm以下であると共に、当該DLC膜面における高さ又は深さが20nm以上の凹凸の数が単位走査距離及び単位膜厚あたり0.01個/単位走査距離(mm)/単位膜厚(nm)以下であることを特徴とするDLC膜。
IPC (5件):
C01B 31/02
, C03B 11/08
, C23C 14/06
, B29C 33/38
, B21D 37/01
FI (5件):
C01B31/02 101Z
, C03B11/08
, C23C14/06 F
, B29C33/38
, B21D37/01
Fターム (61件):
4E050JB09
, 4E050JB10
, 4E050JD03
, 4E050JD04
, 4E050JD05
, 4E050JD06
, 4F202AH74
, 4F202AJ01
, 4F202AJ02
, 4F202AJ06
, 4F202AJ09
, 4F202AJ11
, 4F202AJ14
, 4F202AR12
, 4F202AR13
, 4F202CA09
, 4F202CA11
, 4F202CA15
, 4F202CA17
, 4F202CA27
, 4F202CA30
, 4F202CB01
, 4F202CD22
, 4G146AA05
, 4G146AB07
, 4G146AC01A
, 4G146AC01B
, 4G146AC15A
, 4G146AC15B
, 4G146AC16A
, 4G146AC16B
, 4G146AC22A
, 4G146AC22B
, 4G146AC23A
, 4G146AC23B
, 4G146AC25A
, 4G146AC25B
, 4G146AC30A
, 4G146AC30B
, 4G146AD19
, 4G146AD26
, 4G146AD36
, 4G146AD37
, 4G146BA12
, 4G146BA48
, 4G146BB23
, 4G146BC17
, 4G146BC18
, 4G146BC27
, 4G146DA03
, 4G146DA17
, 4G146DA30
, 4G146DA46
, 4G146DA47
, 4K029AA02
, 4K029BA34
, 4K029CA01
, 4K029CA02
, 4K029CA13
, 4K029DB02
, 4K029DD06
引用特許:
出願人引用 (3件)
審査官引用 (7件)
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引用文献:
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