特許
J-GLOBAL ID:200903080982154846

半導体装置の製造方法及び半導体製造装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 國分 孝悦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-256977
公開番号(公開出願番号):特開2003-086505
出願日: 2001年08月27日
公開日(公表日): 2003年03月20日
要約:
【要約】【課題】 システム・オン・ガラス等への適用に際して、TFTのトランジスタ特性を高レベルで均質化し、特に周辺回路領域において移動度に優れ高速駆動が可能なTFTを実現する。【解決手段】 ガラス基板1上でa-Si膜2を線状(リボン状)(図1(a))、又は島状(アイランド状)(図1(b))にパターニングし、a-Si膜2の表面又はガラス基板1の裏面に対し、CWレーザ3から時間に対して連続的に出力するエネルギービームを矢印の方向へ照射走査して、a-Si膜2を結晶化する。
請求項(抜粋):
基板上に、各々複数の薄膜トランジスタを有する画素領域及びその周辺回路領域が設けられてなる半導体装置の製造方法であって、前記画素領域及び前記周辺回路領域のうち、少なくとも前記周辺回路領域に形成された半導体薄膜を時間に対して連続的にエネルギーを出力するエネルギービームにより結晶化し、前記各薄膜トランジスタの動作半導体薄膜とすることを特徴とする半導体装置の製造方法。
IPC (7件):
H01L 21/20 ,  G02F 1/1368 ,  G09F 9/00 348 ,  G09F 9/30 338 ,  H01L 21/268 ,  H01L 21/336 ,  H01L 29/786
FI (7件):
H01L 21/20 ,  G02F 1/1368 ,  G09F 9/00 348 C ,  G09F 9/30 338 ,  H01L 21/268 J ,  H01L 29/78 627 G ,  H01L 29/78 612 B
Fターム (100件):
2H092JA24 ,  2H092JA46 ,  2H092KA05 ,  2H092KB25 ,  2H092MA05 ,  2H092MA07 ,  2H092MA27 ,  2H092MA30 ,  2H092NA21 ,  2H092NA24 ,  2H092PA01 ,  5C094AA13 ,  5C094AA21 ,  5C094AA25 ,  5C094AA43 ,  5C094AA48 ,  5C094AA53 ,  5C094BA03 ,  5C094CA19 ,  5C094DA09 ,  5C094DA13 ,  5C094DB01 ,  5C094DB04 ,  5C094EB02 ,  5C094FA01 ,  5C094FB12 ,  5C094FB14 ,  5C094FB15 ,  5C094GB10 ,  5C094JA01 ,  5C094JA20 ,  5F052AA02 ,  5F052BA01 ,  5F052BA04 ,  5F052BA07 ,  5F052BA11 ,  5F052BA13 ,  5F052BA14 ,  5F052BA18 ,  5F052BB02 ,  5F052BB04 ,  5F052CA04 ,  5F052CA09 ,  5F052DA02 ,  5F052DB03 ,  5F052EA07 ,  5F052EA12 ,  5F052EA15 ,  5F052FA02 ,  5F052FA07 ,  5F052FA22 ,  5F052JA01 ,  5F110AA01 ,  5F110AA16 ,  5F110BB02 ,  5F110CC02 ,  5F110DD01 ,  5F110DD02 ,  5F110DD03 ,  5F110DD05 ,  5F110DD13 ,  5F110DD14 ,  5F110DD15 ,  5F110DD17 ,  5F110EE03 ,  5F110EE38 ,  5F110EE44 ,  5F110FF02 ,  5F110FF28 ,  5F110FF30 ,  5F110FF32 ,  5F110GG02 ,  5F110GG13 ,  5F110GG16 ,  5F110GG24 ,  5F110GG45 ,  5F110HJ01 ,  5F110HJ04 ,  5F110HJ12 ,  5F110HJ23 ,  5F110HL03 ,  5F110NN04 ,  5F110NN24 ,  5F110NN78 ,  5F110PP03 ,  5F110PP04 ,  5F110PP05 ,  5F110PP06 ,  5F110PP07 ,  5F110PP24 ,  5F110PP29 ,  5F110PP35 ,  5F110QQ11 ,  5G435AA00 ,  5G435EE33 ,  5G435EE37 ,  5G435HH12 ,  5G435HH13 ,  5G435HH14 ,  5G435KK05
引用特許:
審査官引用 (18件)
全件表示

前のページに戻る