特許
J-GLOBAL ID:200903081132498755
顕微鏡ステージ、および、焦点位置計測装置と共焦点顕微鏡システム
発明者:
,
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-128871
公開番号(公開出願番号):特開2006-308709
出願日: 2005年04月27日
公開日(公表日): 2006年11月09日
要約:
【課題】 光学顕微鏡下において、その焦点位置をオーバーシュートや振動を起こすことなく高速、かつ、安定に変位させることを可能にする顕微鏡ステージ、および焦点位置計測装置・システムを提供すること。【解決手段】 ピエゾ素子の電圧-伸長特性の校正表を用いることにより、フィードバック回路等を用いることなく高速にピエゾ素子を伸長・短縮させ、顕微試料を顕微鏡の光軸方向に高速に変位させる。また、ピエゾ素子の伸長軸と、光学顕微鏡の光軸を厳しく平行にさせるために、ピエゾ素子の伸長軸は、自在に調整できる。光学顕微鏡下において、開口数1.3以上の対物レンズ型全反射光学系を用いて、焦点位置、つまり、対物レンズに対する顕微試料の位置を計測する。【選択図】 図5
請求項(抜粋):
光学顕微鏡において、顕微試料標本を入れるためのガラスチャンバーと、該ガラスチャンバーを直接接着し、画像を得る焦点方向の深さ位置を指定し焦点位置を制御するためのピエゾ素子と、該ピエゾ素子の伸長・短縮方向を前記光学顕微鏡の光軸に並行に調節するあおりネジを具備し、前記ピエゾ素子の電圧に対する変位応答を計測した校正表を予め用意し、その校正表を用いて前記ピエゾ素子を駆動することにより、フィードバック回路を用いることなく、高速に焦点位置を走査することを特徴とする顕微鏡ステージ。
IPC (5件):
G02B 21/26
, G01B 11/00
, G02B 7/08
, G02B 7/04
, G02B 7/28
FI (5件):
G02B21/26
, G01B11/00 B
, G02B7/08 A
, G02B7/04 C
, G02B7/11 J
Fターム (37件):
2F065AA06
, 2F065AA11
, 2F065DD04
, 2F065FF09
, 2F065FF10
, 2F065FF44
, 2F065GG04
, 2F065HH04
, 2F065HH13
, 2F065JJ03
, 2F065JJ16
, 2F065JJ24
, 2F065LL04
, 2F065LL12
, 2F065MM03
, 2F065PP12
, 2F065QQ03
, 2F065QQ25
, 2F065UU03
, 2H044BB01
, 2H044BB05
, 2H044DB04
, 2H051AA11
, 2H052AA08
, 2H052AB02
, 2H052AB06
, 2H052AC20
, 2H052AC34
, 2H052AD05
, 2H052AD06
, 2H052AD09
, 2H052AD14
, 2H052AD16
, 2H052AD18
, 2H052AD19
, 2H052AD20
, 2H052AD27
引用特許:
出願人引用 (2件)
-
共焦点顕微鏡装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-351577
出願人:独立行政法人科学技術振興機構, 学校法人東海大学
-
光イメージング装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-124305
出願人:オリンパス株式会社
審査官引用 (14件)
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