特許
J-GLOBAL ID:201003009970406534

超高品質シリコン含有化合物層の形成方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 八木澤 史彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-143215
公開番号(公開出願番号):特開2010-283357
出願日: 2010年06月23日
公開日(公表日): 2010年12月16日
要約:
【課題】ALDがCVDに比べて優れたコンフォーミティ(coformality)、成膜速度及び均一性を備えた気相堆積方法を提供する。【解決手段】シリコンナイトライド層を含む、超高品質シリコン含有化合物層を形成するため、複数の順次的なステップ140が、反応チャンバー中で実施される。好ましい実施態様において、シリコン前駆物質としてトリシランを用いて、シリコン層が基板上に堆積100される。シリコン前駆物質は、反応チャンバーから除去される110。その後、シリコンナイトライド層が、シリコン層を窒化すること120によって形成される。窒素反応物質は、反応チャンバーから除去される110。これらのステップ100、110、120及び130を繰り返すことによって、所望の厚さのシリコンナイトライド層が形成される。【選択図】図3
請求項(抜粋):
シリコン含有化合物層を有する集積回路の製造方法であって、該方法が、複数のサイクルを含み、各サイクルが、以下: 物質輸送による制限がなされた400°C以上の成膜条件で基板をトリシランに暴露することによって、基板とトリシランとを接触させて、トリシランを基板で、トリシランをプロセスチャンバー内に導入している間に熱分解させ、プロセスチャンバー内において基板にシリコン層を堆積すること; その後、プロセスチャンバーからトリシランを除去すること; シリコン層を反応種(reactive species)に暴露することによって、5%以下の厚さ不均一性と、80%以上のステップカバレッジと、を有するシリコン含有化合物層を形成すること;及び その後、プロセスチャンバーから反応種を除去すること を含む製造方法。
IPC (8件):
H01L 21/318 ,  H01L 21/316 ,  H01L 21/31 ,  H01L 21/768 ,  H01L 23/522 ,  C23C 16/42 ,  C23C 16/455 ,  H01L 29/78
FI (8件):
H01L21/318 B ,  H01L21/316 X ,  H01L21/31 C ,  H01L21/31 B ,  H01L21/90 K ,  C23C16/42 ,  C23C16/455 ,  H01L29/78 301G
Fターム (58件):
4K030AA06 ,  4K030AA14 ,  4K030AA18 ,  4K030BA35 ,  4K030BA40 ,  4K030BA44 ,  4K030CA04 ,  4K030CA12 ,  4K030EA03 ,  4K030FA01 ,  4K030FA10 ,  4K030HA01 ,  4K030JA10 ,  4K030JA11 ,  4K030LA02 ,  4K030LA15 ,  5F033QQ76 ,  5F033QQ78 ,  5F033RR01 ,  5F033RR06 ,  5F033SS02 ,  5F033SS11 ,  5F033XX02 ,  5F045AA08 ,  5F045AA15 ,  5F045AA16 ,  5F045AB32 ,  5F045AB33 ,  5F045AC01 ,  5F045AC12 ,  5F045AC15 ,  5F045EE19 ,  5F045EH18 ,  5F058BC02 ,  5F058BC08 ,  5F058BD02 ,  5F058BD03 ,  5F058BD04 ,  5F058BD10 ,  5F058BF07 ,  5F058BF23 ,  5F058BF29 ,  5F058BF30 ,  5F058BF37 ,  5F058BJ01 ,  5F140AA39 ,  5F140BD01 ,  5F140BD06 ,  5F140BD07 ,  5F140BD09 ,  5F140BE03 ,  5F140BE07 ,  5F140BE08 ,  5F140BE10 ,  5F140BG08 ,  5F140BG14 ,  5F140BG49 ,  5F140BG52
引用特許:
審査官引用 (11件)
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引用文献:
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