特許
J-GLOBAL ID:201003009970406534
超高品質シリコン含有化合物層の形成方法
発明者:
,
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
八木澤 史彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-143215
公開番号(公開出願番号):特開2010-283357
出願日: 2010年06月23日
公開日(公表日): 2010年12月16日
要約:
【課題】ALDがCVDに比べて優れたコンフォーミティ(coformality)、成膜速度及び均一性を備えた気相堆積方法を提供する。【解決手段】シリコンナイトライド層を含む、超高品質シリコン含有化合物層を形成するため、複数の順次的なステップ140が、反応チャンバー中で実施される。好ましい実施態様において、シリコン前駆物質としてトリシランを用いて、シリコン層が基板上に堆積100される。シリコン前駆物質は、反応チャンバーから除去される110。その後、シリコンナイトライド層が、シリコン層を窒化すること120によって形成される。窒素反応物質は、反応チャンバーから除去される110。これらのステップ100、110、120及び130を繰り返すことによって、所望の厚さのシリコンナイトライド層が形成される。【選択図】図3
請求項(抜粋):
シリコン含有化合物層を有する集積回路の製造方法であって、該方法が、複数のサイクルを含み、各サイクルが、以下:
物質輸送による制限がなされた400°C以上の成膜条件で基板をトリシランに暴露することによって、基板とトリシランとを接触させて、トリシランを基板で、トリシランをプロセスチャンバー内に導入している間に熱分解させ、プロセスチャンバー内において基板にシリコン層を堆積すること;
その後、プロセスチャンバーからトリシランを除去すること;
シリコン層を反応種(reactive species)に暴露することによって、5%以下の厚さ不均一性と、80%以上のステップカバレッジと、を有するシリコン含有化合物層を形成すること;及び
その後、プロセスチャンバーから反応種を除去すること
を含む製造方法。
IPC (8件):
H01L 21/318
, H01L 21/316
, H01L 21/31
, H01L 21/768
, H01L 23/522
, C23C 16/42
, C23C 16/455
, H01L 29/78
FI (8件):
H01L21/318 B
, H01L21/316 X
, H01L21/31 C
, H01L21/31 B
, H01L21/90 K
, C23C16/42
, C23C16/455
, H01L29/78 301G
Fターム (58件):
4K030AA06
, 4K030AA14
, 4K030AA18
, 4K030BA35
, 4K030BA40
, 4K030BA44
, 4K030CA04
, 4K030CA12
, 4K030EA03
, 4K030FA01
, 4K030FA10
, 4K030HA01
, 4K030JA10
, 4K030JA11
, 4K030LA02
, 4K030LA15
, 5F033QQ76
, 5F033QQ78
, 5F033RR01
, 5F033RR06
, 5F033SS02
, 5F033SS11
, 5F033XX02
, 5F045AA08
, 5F045AA15
, 5F045AA16
, 5F045AB32
, 5F045AB33
, 5F045AC01
, 5F045AC12
, 5F045AC15
, 5F045EE19
, 5F045EH18
, 5F058BC02
, 5F058BC08
, 5F058BD02
, 5F058BD03
, 5F058BD04
, 5F058BD10
, 5F058BF07
, 5F058BF23
, 5F058BF29
, 5F058BF30
, 5F058BF37
, 5F058BJ01
, 5F140AA39
, 5F140BD01
, 5F140BD06
, 5F140BD07
, 5F140BD09
, 5F140BE03
, 5F140BE07
, 5F140BE08
, 5F140BE10
, 5F140BG08
, 5F140BG14
, 5F140BG49
, 5F140BG52
引用特許:
引用文献:
前のページに戻る