特許
J-GLOBAL ID：201003046568025551

形状測定装置およびプログラム

発明者：
高地 伸夫

高地 伸夫 について

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北村 和男

北村 和男 について

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渡邉 広登

渡邉 広登 について


出願人/特許権者：
株式会社トプコン

株式会社トプコン について


代理人 (1件)： 末成 幹生
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-321505
公開番号（公開出願番号）：特開2010-145186
出願日： 2008年12月17日
公開日（公表日）： 2010年07月01日
要約：
【課題】重複画像における誤対応点を自動判定することで、三次元形状の測定に必要な初期値を始めとする測定値を自動で取得する。【解決手段】 形状測定装置1は、重複撮影領域で測定対象物18を撮影する撮影部2〜9と、撮影部2〜9によって撮影された重複画像における測定対象物18の特徴点の位置を対応付ける特徴点対応付部21と、特徴点対応付部21で対応付けた特徴点に基づき、測定対象物18のモデルを形成する測定モデル形成部23と、測定モデル形成部23で形成した測定モデルと、別の測定対象物の基準モデルとに基づいて、誤対応点を判定する誤対応点判定部24と、誤対応点判定部24で誤対応点と判定された点を除いた特徴点の位置等に基づき、測定対象物18の三次元形状を求める三次元形状測定部25とを備える。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
複数の撮影位置から重複した撮影領域で、測定対象物を撮影する撮影部と、 前記撮影部によって撮影された重複画像における前記測定対象物の特徴点の位置を対応付ける特徴点対応付部と、 前記特徴点対応付部で対応付けた前記重複画像上での特徴点に基づき、前記測定対象物のモデルを形成する測定モデル形成部と、 前記測定モデル形成部で形成した測定モデルと、前記測定対象物の形態に基づき形成された基準モデルとに基づいて、誤対応点を判定する誤対応点判定部と、 前記誤対応点判定部で誤対応点と判定された点を除いた特徴点の位置および前記複数の撮影位置に基づき、前記測定対象物の特徴点の三次元座標または前記測定対象物の三次元形状を求める三次元形状測定部と、を備えることを特徴とする形状測定装置。
IPC (3件)：
G01B 11/245 ,  G01B 11/25 ,  G06T 1/00
FI (3件)：
G01B11/245 H ,  G01B11/25 H ,  G06T1/00 315
Fターム (39件)：
2F065AA04 ,  2F065AA17 ,  2F065AA37 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065BB27 ,  2F065CC16 ,  2F065FF05 ,  2F065GG04 ,  2F065HH04 ,  2F065HH05 ,  2F065HH07 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ07 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL16 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ08 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ18 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ33 ,  2F065QQ38 ,  2F065QQ42 ,  2F065RR05 ,  2F065SS02 ,  2F065SS13 ,  2F065UU05 ,  5B057AA20 ,  5B057CD01 ,  5B057CE12 ,  5B057DA20 ,  5B057DB03 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC09 ,  5B057DC33 ,  5B057DC36
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (7件)
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